[发明专利]大口径反射面天线结构变形对电性能影响的快速计算方法有效

专利信息
申请号: 201810445637.X 申请日: 2018-05-11
公开(公告)号: CN108666766B 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 伍洋;刘胜文;杜彪;刘国玺;郭晓坡 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
主分类号: H01Q19/10 分类号: H01Q19/10;G06F30/20
代理公司: 河北东尚律师事务所 13124 代理人: 王文庆
地址: 050081 河北省石家*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 口径 反射 天线 结构 变形 性能 影响 快速 计算方法
【权利要求书】:

1.大口径反射面天线结构变形对电性能影响的快速计算方法,其特征在于包括如下步骤:

(1)计算组成反射面天线的每一块天线面板在理想情况下每个角度所对应的散射方向图,并记录;

(2)根据反射面天线结构力学分析的结果,确定各种工况下每一块天线面板的最大的位移量和旋转量,在最大的位移量和旋转量范围内,分别计算不同的位移量和旋转量引起的每一块天线面板的散射方向图幅度和相位的变化,进而确定每一块天线面板散射方向图的修正因子;

(3)基于反射面天线结构力学分析的结果,确定每一块天线面板的实际位移量和旋转量,根据修正因子对每一块天线面板的散射方向图进行修正;

(4)将修正后的每一块天线面板的散射方向图进行叠加,得到结构变形后反射面天线的方向图;

(5)根据结构变形后反射面天线的方向图计算所需的相关技术指标;

完成大口径反射面天线结构变形对电性能影响的快速计算。

2.根据权利要求1所述的大口径反射面天线结构变形对电性能影响的快速计算方法,其特征在于:所述的每一块天线面板散射方向图的修正因子用拟合函数的方法来描述或用插值的方法来确定。

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