[发明专利]处理器芯片仿真器及掉电测试方法在审
| 申请号： | 201810441719.7 | 申请日： | 2018-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN108664399A | 公开（公告）日： | 2018-10-16 |
| 发明（设计）人： | 许国泰;陈兵;周伟;程德怿;余景原;张靖韬;王子玮 | 申请（专利权）人： | 上海市信息网络有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 200081 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种处理器芯片仿真器，仿真芯片内具有非易失性存储器控制器和非易失性存储器，供电检测模块通过供电信号线接收和检测外部对处理器芯片的供电信号，通过仿真芯片复位信号线与仿真芯片相连接，通过非易失性存储器复位信号线与非易失性存储器控制器相连接；如果对处理器芯片停止供电，则供电检测模块向非易失性存储器控制器输出一个有效复位信号；如果供电检测模块检测到对处理器芯片重新供电，则向仿真芯片输出一个有效复位信号。本发明还公开了一种处理器芯片仿真器掉电测试的方法。本发明能够模拟非易失性存储器的掉电特性。 | ||
| 搜索关键词： | 处理器芯片 非易失性存储器 仿真芯片 供电检测模块 仿真器 有效复位信号 复位信号线 掉电测试 供电信号 控制器 向非易失性存储器 易失性存储器 控制器输出 停止供电 检测 掉电 与非 供电 输出 外部 | ||
【主权项】：
1.一种处理器芯片仿真器，其特征在于，包括：供电检测模块和仿真芯片；所述仿真芯片内具有非易失性存储器控制器和非易失性存储器，非易失性存储器控制器和非易失性存储器共同等效实现非易失性存储器功能和性能；所述供电检测模块通过供电信号线接收和检测外部对处理器芯片的供电信号，所述供电检测模块通过仿真芯片复位信号线与仿真芯片相连接，通过非易失性存储器复位信号线与仿真芯片内的非易失性存储器控制器相连接；所述供电检测模块通过供电信号线实时监测外部激励环境，判断外部对处理器芯片的供电情况，如果对处理器芯片停止供电，则向所述非易失性存储器控制器输出一个有效复位信号，控制非易失性存储器控制器发生一次复位；如果供电检测模块检测到对处理器芯片重新供电，则向仿真芯片输出一个有效复位信号，控制整个仿真芯片发生一次复位。
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