[发明专利]处理器芯片仿真器及掉电测试方法

说明书

本发明公开了一种处理器芯片仿真器，仿真芯片内具有非易失性存储器控制器和非易失性存储器，供电检测模块通过供电信号线接收和检测外部对处理器芯片的供电信号，通过仿真芯片复位信号线与仿真芯片相连接，通过非易失性存储器复位信号线与非易失性存储器控制器相连接；如果对处理器芯片停止供电，则供电检测模块向非易失性存储器控制器输出一个有效复位信号；如果供电检测模块检测到对处理器芯片重新供电，则向仿真芯片输出一个有效复位信号。本发明还公开了一种处理器芯片仿真器掉电测试的方法。本发明能够模拟非易失性存储器的掉电特性。

技术领域

本发明涉及处理器芯片调试领域，特别是涉及一种支持掉电测试的处理器芯片仿真器。本发明还涉及一种处理器芯片仿真器掉电测试的方法。

背景技术

处理器芯片内有用户开发的用户程序，在用户程序的编写和调试中，所使用的工具一般是仿真器。仿真器内使用包含产品处理器芯片各项功能的仿真芯片，用于模拟产品处理器芯片的工作行为，仿真芯片与仿真器其它部件(存放用户程序的程序存储器、存放数据的数据存储器，以及用户电脑上的集成开发环境等)配合实现用户程序的仿真运行和各项调试功能。

很多处理器芯片都带有非易失性存储器，例如Flash(闪存)、EEPROM(Electrically Erasable Programmable read only memory，电可擦可编程只读存储器)等，这类存储器具有处理器芯片下电后数据依旧可以保存的特点，经常被用于存放需要掉电后仍旧能保存的记录文件或数据信息等。不同于RAM特性的存储器，通过处理器芯片执行用户程序，获得目标地址和数据后可以直接写入，需要写入或改写非易失性存储器内信息时，需要通过处理器芯片执行用户程序启动非易失性存储器的擦除动作(包括字节、块、页或全片擦除等)，擦除成功后，然后再执行写入操作。

由于非易失性存储器的擦除物理特性要求，擦除过程需要充电、加压、擦除，耗时较长，往往达到毫秒级别或更长。此过程中如果发生处理器芯片掉电，非易失性存储器的擦除过程被打断，就可能会出现数据被擦除了一部分，如果下次处理器芯片上电后直接使用，非易失性存储器内数据出错的情况。因此，用户程序里都会有在非易失性存储器擦除过程中防止掉电数据出错的程序段，用于检测和发现非易失性存储器擦除、擦写过程中发生掉电后，保护、丢弃或恢复非易失性存储器内数据，以保证下次处理器芯片上电后，非易失性存储器内数据合法、正常，并可查询到是否发生过擦除、擦写过程中的掉电。

现有的仿真器设计中，以仿真芯片替代产品芯片，模拟处理器芯片执行用户程序时处理器芯片的各种功能和性能，而处理器芯片掉电处理程序是仿真器上调试测试用户程序的一个重点。但是在仿真器上处理器芯片发生掉电后，还需要仿真芯片能继续执行监控程序，导出处理器芯片的各种状态、存储器、寄存器数据等，不能真的对仿真芯片下电，故通常采用产生一个处理器芯片的全局复位来等效代替下电，但是由于全局复位的发生，破坏了掉电发生时的芯片状态，用户调试时无法查看和导出掉电发生时的芯片状态情况。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种处理器芯片仿真器，能够模拟非易失性存储器的掉电特性；为此，本发明还要提供一种处理器芯片仿真器掉电测试的方法。

为解决上述技术问题，本发明的处理器芯片仿真器，包括：供电检测模块和仿真芯片；所述仿真芯片内具有非易失性存储器控制器和非易失性存储器，非易失性存储器控制器和非易失性存储器共同等效实现非易失性存储器功能和性能；所述供电检测模块通过供电信号线接收和检测外部对处理器芯片的供电信号，所述供电检测模块通过仿真芯片复位信号线与仿真芯片相连接，通过非易失性存储器复位信号线与仿真芯片内的非易失性存储器控制器相连接；