[发明专利]一种二维转顶精度检测方法有效
| 申请号： | 201810425229.8 | 申请日： | 2018-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN108489396B | 公开（公告）日： | 2019-11-01 |
| 发明（设计）人： | 孔德旺;王玉伟;莫崇江 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人： | 周娇娇;张沫 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种二维转顶精度检测方法，涉及电磁散射技术领域。其中，该方法包括：将二维转顶的俯仰角和方位角调至初始角度，以第一角度间隔使二维转顶作方位运动，通过激光跟踪仪采集反射器在每个理论方位角下的坐标；以第二角度间隔使二维转顶作俯仰运动，通过激光跟踪仪采集反射器在每个理论俯仰角下的坐标；根据所述反射器在每个理论方位角下的坐标以及在每个理论俯仰角下的坐标，确定空载状态下二维转顶方位运动、俯仰运动的定位精度以及方位轴和俯仰轴的正交度。通过以上步骤，能够提高检测获得的方位运动、俯仰运动定位精度的准确性，实现方位轴与俯仰轴正交度的检测，提高二维转顶精度检测的全面性。 | ||
| 搜索关键词： | 二维 方位运动 俯仰运动 精度检测 反射器 方位角 俯仰角 激光跟踪仪 角度间隔 方位轴 俯仰轴 正交 采集 空载状态 散射技术 全面性 检测 | ||
【主权项】：
1.一种二维转顶精度检测方法，其特征在于，所述方法包括：步骤A、将反射器放置在二维转顶的顶面，并令经由所述反射器反射的激光方向指向激光跟踪仪；步骤B、将二维转顶的俯仰角和方位角调至初始角度，以第一角度间隔使所述二维转顶作方位运动，通过所述激光跟踪仪采集所述反射器在每个理论方位角下的坐标；以第二角度间隔使所述二维转顶作俯仰运动，通过激光跟踪仪采集所述反射器在每个理论俯仰角下的坐标；步骤C、根据所述反射器在每个理论方位角下的坐标以及在每个理论俯仰角下的坐标，确定空载状态下二维转顶方位运动、俯仰运动的定位精度以及方位轴和俯仰轴的正交度；步骤D、将偏心负载和反射器放置在二维转顶的顶面，并令经由所述反射器反射的激光方向指向激光跟踪仪；步骤E、在反射器位于所述顶面上与回转中心共线的测量点1和测量点2时，分别执行以下操作：以第三角度间隔使所述二维转顶作方位运动，通过所述激光跟踪仪采集所述反射器在每个理论方位角下的坐标；以第四角度间隔使所述二维转顶作俯仰运动，通过激光跟踪仪采集所述反射器在每个理论俯仰角下的坐标；步骤F、根据所述反射器在测量点1和测量点2处每个理论方位角下的坐标以及在每个理论俯仰角下的坐标，确定偏心负载状态下二维转顶方位运动、俯仰运动的定位精度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京环境特性研究所，未经北京环境特性研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810425229.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
