[发明专利]硅基雪崩光电探测器阵列及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201810408181.X 申请日: 2018-04-28
公开(公告)号: CN108573989B 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 郑婉华;彭红玲 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 谢海燕
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种硅基雪崩光电探测器阵列及其制作方法,硅基雪崩光电探测器阵列的器件主体结构为在SiO2/Si复合衬底上形成有外延Si层的晶片结构,该晶片结构是通过键合技术而形成的外延Si/SiO2/Si材料结构,基于该晶片结构的硅基雪崩光电探测器阵列包括:SiO2/Si复合衬底;雪崩光电探测器(APD)单元,其在SiO2/Si复合衬底上呈阵列状排布;沟槽结构,其围绕APD单元形成;其中,沟槽结构的侧壁面和底部均淀积高反介质膜。由此,通过沟槽结构的高反介质膜阻挡邻近APD单元间的侧向光串扰,通过基于SiO2/Si复合衬底的SiO2键合界面阻挡二次光子经由衬底进入邻近APD,从而有效截断了APD单元间的串扰路径,不仅APD阵列的整体性能提升,而且有利于大面阵的APD阵列的紧凑集成而提高量产性。
搜索关键词: 雪崩 光电 探测器 阵列 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种硅基雪崩光电探测器阵列,包括:SiO2/Si复合衬底;APD单元,其在所述SiO2/Si复合衬底上呈阵列状排布;沟槽结构,其围绕所述APD单元形成;其中,所述沟槽结构的侧壁面和底部均淀积高反介质膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810408181.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top