[发明专利]基于Streif指数的‘富士’苹果成熟度无损检测方法

摘要

本发明公开了一种基于Streif指数的‘富士’苹果成熟度无损检测方法。采集不同成熟期的‘富士’苹果样品；获得各成熟期样品的淀粉碘染色指数；采集样品的光谱数据、硬度值和可溶性固形物含量值；计算样品的Streif指数；对样品光谱数据/Streif指数数据进行数据预处理，同时对光谱有效波段进行优化筛选，基于优化结果建立偏最小二乘回归预测模型；将待测样品的光谱数据输入到预测模型，获得待测样品的Streif指数。本发明方法能够为适时采收提供科学的、快捷的判断标准，为中国‘富士’苹果的标准化生产提供技术支撑。

主权项

1.一种基于Streif指数的‘富士’苹果成熟度无损检测方法，包括以下步骤：S1，采集不同成熟期的‘富士’苹果样品；S2，通过果实切面染色及参比标准染色图谱，获得各成熟期样品的淀粉染色指数；S3，针对每个样品，在样品赤道上等间距的n个采集点处采集近红外光谱数据，取n个采集点处的近红外光谱平均值作为该样品的光谱数据；S4，针对每个样品，进行果肉硬度和可溶性固形物含量的测定，获得该样品的硬度值和可溶性固形物含量值；S5，针对每个样品，根据该样品成熟期所对应的淀粉碘染色指数、硬度值和可溶性固形物含量值计算该样品的Streif指数；S6，将各个样品所获得的光谱数据/Streif指数数据进行数据预处理，在特定有效波段范围内采用偏最小二乘回归法建立专用于Streif指数预测的预测模型；S7，针对‘富士’苹果待测样品，重复上述步骤S3获得待测样品的光谱数据，将待测样品的光谱数据输入到预测模型，获得待测样品的Streif指数。