[发明专利]基于Streif指数的‘富士’苹果成熟度无损检测方法在审

专利信息
申请号: 201810395221.1 申请日: 2018-04-27
公开(公告)号: CN108535250A 公开(公告)日: 2018-09-14
发明(设计)人: 应义斌;罗璇;容典;饶秀勤 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01N21/78 分类号: G01N21/78;G01N21/359;G01N21/3563;G01N3/40;G01N33/02;G06F17/18
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 林超
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 待测样品 光谱数据 无损检测 预测模型 成熟度 苹果 偏最小二乘回归 可溶性固形物 样品光谱数据 采集 标准化生产 数据预处理 技术支撑 判断标准 苹果样品 适时采收 优化结果 有效波段 指数数据 染色 光谱 淀粉 筛选 优化
【权利要求书】:

1.一种基于Streif指数的‘富士’苹果成熟度无损检测方法,包括以下步骤:

S1,采集不同成熟期的‘富士’苹果样品;

S2,通过果实切面染色及参比标准染色图谱,获得各成熟期样品的淀粉染色指数;

S3,针对每个样品,在样品赤道上等间距的n个采集点处采集近红外光谱数据,取n个采集点处的近红外光谱平均值作为该样品的光谱数据;

S4,针对每个样品,进行果肉硬度和可溶性固形物含量的测定,获得该样品的硬度值和可溶性固形物含量值;

S5,针对每个样品,根据该样品成熟期所对应的淀粉碘染色指数、硬度值和可溶性固形物含量值计算该样品的Streif指数;

S6,将各个样品所获得的光谱数据/Streif指数数据进行数据预处理,在特定有效波段范围内采用偏最小二乘回归法建立专用于Streif指数预测的预测模型;

S7,针对‘富士’苹果待测样品,重复上述步骤S3获得待测样品的光谱数据,将待测样品的光谱数据输入到预测模型,获得待测样品的Streif指数。

2.如权利要求1所述的一种基于Streif指数的‘富士’苹果成熟度无损检测方法,其特征在于:所述步骤S6中,光谱数据采用标准正态变量方法进行预处理,Streif指数数据不进行任何预处理,选取有效波段为790-860nm构建预测模型。

3.如权利要求1所述的一种基于Streif指数的‘富士’苹果成熟度无损检测方法,其特征在于:所述步骤S2中,针对各成熟期的样品,从该成熟期的所有样品中随机抽取10个样品进行淀粉碘染色,并将淀粉碘染色图与标准染色图相对比,读取染色级数,然后通过以下公式计算得出各成熟期样品的淀粉碘染色指数:

淀粉碘染色指数=(Σ(染色级数*该级样品数))/样品总数。

4.如权利要求1所述的一种基于Streif指数的‘富士’苹果成熟度无损检测方法,其特征在于:所述步骤S4中,针对每个样品,在与步骤S3相同的n个采集点处分别进行果肉硬度和可溶性固形物含量的测定,分别取n个采集点的果肉硬度平均值和可溶性固形物含量平均值作为该样品的硬度值和可溶性固形物含量值。

5.如权利要求1所述的一种基于Streif指数的‘富士’苹果成熟度无损检测方法,其特征在于:所述步骤S5中,Strerif指数采用以下公式计算:Strerif指数=硬度值/(可溶性固形物含量值*淀粉碘染色指数)。

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