[发明专利]一种提高量子效率的CMOS图像传感器有效

专利信息
申请号: 201810392924.9 申请日: 2018-04-27
公开(公告)号: CN108493206B 公开(公告)日: 2020-10-02
发明(设计)人: 孙德明 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;马盼
地址: 201210 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种提高量子效率的CMOS图像传感器,包括位于衬底上的转移晶体管、PN光电二极管和石墨烯层,所述转移晶体管包括栅极、侧墙、栅介质层、漏区和源区,所述侧墙围绕在所述栅极周围,所述栅介质层位于所述侧墙和栅极的下方,所述源区和漏区分别位于所述栅介质层之下,且在垂直方向上位于栅极的两侧;所述PN光电二极管与所述转移晶体管的源区相连接,所述栅介质层延伸至覆盖所述PN光电二极管的上表面,所述PN光电二极管在远离衬底的方向依次形成N型掺杂区和P型掺杂区,所述石墨烯层覆盖在PN光电二极管上方的栅介质层上。本发明提供的一种提高量子效率的CMOS图像传感器,减少了光生载流子在中性区的复合,提高了短波长入射光的量子效率。
搜索关键词: 一种 提高 量子 效率 cmos 图像传感器
【主权项】:
1.一种提高量子效率的CMOS图像传感器,其特征在于,包括位于衬底上的转移晶体管、PN光电二极管和石墨烯层,所述转移晶体管包括栅极、侧墙、栅极介质层、漏区和源区,所述侧墙围绕在所述栅极周围,所述栅介质层位于所述侧墙和栅极的下方,所述源区和漏区分别位于所述栅介质层之下,且在垂直方向上位于栅极的两侧;所述PN光电二极管与所述转移晶体管的源区相连接,所述栅介质层延伸至覆盖所述PN光电二极管的上表面,所述PN光电二极管在远离衬底的方向依次形成N型掺杂区和P型掺杂区,所述石墨烯层覆盖在PN光电二极管上方的栅介质层上,当所述CMOS图像传感器处于工作状态时,所述石墨烯层加负偏压。
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