[发明专利]电路结构最优化装置以及机器学习装置有效
| 申请号： | 201810326636.3 | 申请日： | 2018-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN108736881B | 公开（公告）日： | 2020-04-17 |
| 发明（设计）人： | 和泉均;栗原健一郎 | 申请（专利权）人： | 发那科株式会社 |
| 主分类号： | H03K19/17764 | 分类号： | H03K19/17764 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;曹鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电路结构最优化装置以及机器学习装置。该电路结构最优化装置具备学习FPGA器件的电路结构的机器学习装置，该机器学习装置将FPGA器件的电路结构数据以及表示FPGA器件的错误产生状态的FPGA错误产生状态数据作为表示环境的当前状态的状态变量进行观测，另外，取得表示FPGA器件工作状态的适当与否判定结果的判定数据。于是，使用这些状态变量和判定数据，将FPGA器件的电路结构与FPGA错误产生状态数据关联起来进行学习。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 结构 优化 装置 以及 机器 学习 | ||
【主权项】：
1.一种电路结构最优化装置，进行FPGA器件的电路结构和配置的最优化，其特征在于，该电路结构最优化装置具备学习上述FPGA器件的电路结构的机器学习装置，上述机器学习装置具备：状态观测部，其将表示上述FPGA器件的电路结构的FPGA器件的电路结构数据以及表示上述FPGA器件的错误产生状态的FPGA错误产生状态数据作为表示环境的当前状态的状态变量进行观测；判定数据取得部，其取得表示上述FPGA器件工作状态的适当与否判定结果的判定数据；以及学习部，其使用上述状态变量和上述判定数据，将上述FPGA器件的电路结构与上述FPGA错误产生状态数据关联起来进行学习。
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