[发明专利]SiC晶片的生成方法在审

专利信息
申请号: 201810315321.9 申请日: 2018-04-10
公开(公告)号: CN108735578A 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: 平田和也 申请(专利权)人: 株式会社迪思科
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L21/04
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 庞东成;褚瑶杨
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种SiC晶片的生成方法,其能够更经济地从单晶SiC晶锭生成晶片。该SiC晶片的生成方法包括下述工序:剥离层形成工序,将对晶锭(2)具有透过性的波长的脉冲激光光线LB的聚光点FP定位在距离晶锭(2)的平坦面相当于要生成的SiC晶片的厚度的深度,对晶锭(2)照射脉冲激光光线LB,形成剥离层(26);晶片的剥离工序,以剥离层(26)作为起点,将要生成的SiC晶片(40)从晶锭(2)剥离;以及平坦面精整工序,对剥离SiC晶片(40)后的晶锭(2)的上表面(42)进行磨削,除去凹凸,精整成平坦面。平坦面精整工序包括:第一磨削步骤,对晶锭(2)的上表面(42)进行粗磨削,有残留地不完全除去凹凸;以及第二磨削步骤,对晶锭(2)的上表面(42)进行精磨削,除去残留的凹凸,精加工成平坦面。
搜索关键词: 晶锭 平坦面 磨削 剥离层 上表面 精整 晶片 剥离 残留 脉冲激光光线 照射脉冲激光 剥离工序 形成工序 单晶SiC 聚光点 透过性 精加工 波长
【主权项】:
1.一种SiC晶片的生成方法,其从单晶SiC晶锭生成SiC晶片,该SiC晶片的生成方法具备下述工序:剥离层形成工序,将对单晶SiC晶锭具有透过性的波长的脉冲激光光线的聚光点定位在距离单晶SiC晶锭的平坦面相当于要生成的SiC晶片的厚度的深度,对单晶SiC晶锭照射脉冲激光光线,形成剥离层;晶片的剥离工序,以该剥离层作为起点,将要生成的SiC晶片从单晶SiC晶锭剥离;以及平坦面精整工序,对剥离SiC晶片后的单晶SiC晶锭的上表面进行磨削,除去凹凸,精整成平坦面,该平坦面精整工序包括下述步骤:第一磨削步骤,对单晶SiC晶锭的上表面进行粗磨削,有残留地不完全除去凹凸;以及第二磨削步骤,在实施第一磨削步骤之后,对单晶SiC晶锭的上表面进行精磨削,除去残留的凹凸,精加工成平坦面。
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