[发明专利]SiC晶片的生成方法在审
申请号: | 201810315321.9 | 申请日: | 2018-04-10 |
公开(公告)号: | CN108735578A | 公开(公告)日: | 2018-11-02 |
发明(设计)人: | 平田和也 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/04 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 庞东成;褚瑶杨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种SiC晶片的生成方法,其能够更经济地从单晶SiC晶锭生成晶片。该SiC晶片的生成方法包括下述工序:剥离层形成工序,将对晶锭(2)具有透过性的波长的脉冲激光光线LB的聚光点FP定位在距离晶锭(2)的平坦面相当于要生成的SiC晶片的厚度的深度,对晶锭(2)照射脉冲激光光线LB,形成剥离层(26);晶片的剥离工序,以剥离层(26)作为起点,将要生成的SiC晶片(40)从晶锭(2)剥离;以及平坦面精整工序,对剥离SiC晶片(40)后的晶锭(2)的上表面(42)进行磨削,除去凹凸,精整成平坦面。平坦面精整工序包括:第一磨削步骤,对晶锭(2)的上表面(42)进行粗磨削,有残留地不完全除去凹凸;以及第二磨削步骤,对晶锭(2)的上表面(42)进行精磨削,除去残留的凹凸,精加工成平坦面。 | ||
搜索关键词: | 晶锭 平坦面 磨削 剥离层 上表面 精整 晶片 剥离 残留 脉冲激光光线 照射脉冲激光 剥离工序 形成工序 单晶SiC 聚光点 透过性 精加工 波长 | ||
【主权项】:
1.一种SiC晶片的生成方法,其从单晶SiC晶锭生成SiC晶片,该SiC晶片的生成方法具备下述工序:剥离层形成工序,将对单晶SiC晶锭具有透过性的波长的脉冲激光光线的聚光点定位在距离单晶SiC晶锭的平坦面相当于要生成的SiC晶片的厚度的深度,对单晶SiC晶锭照射脉冲激光光线,形成剥离层;晶片的剥离工序,以该剥离层作为起点,将要生成的SiC晶片从单晶SiC晶锭剥离;以及平坦面精整工序,对剥离SiC晶片后的单晶SiC晶锭的上表面进行磨削,除去凹凸,精整成平坦面,该平坦面精整工序包括下述步骤:第一磨削步骤,对单晶SiC晶锭的上表面进行粗磨削,有残留地不完全除去凹凸;以及第二磨削步骤,在实施第一磨削步骤之后,对单晶SiC晶锭的上表面进行精磨削,除去残留的凹凸,精加工成平坦面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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