[发明专利]减少校准和调谐期间的检测器耗损有效
申请号: | 201810257300.6 | 申请日: | 2018-03-27 |
公开(公告)号: | CN108666199B | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
发明(设计)人: | G·B·古肯博格;S·T·夸姆比;J·G·沃斯;M·B·杨 | 申请(专利权)人: | 萨默费尼根有限公司 |
主分类号: | H01J49/00 | 分类号: | H01J49/00;H01J49/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈洁;姬利永 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种操作质谱仪的方法包括:使用检测器的第一增益设置或维持第一质荷比范围的第一发射电流来检测第一离子物种;使用所述检测器的第二增益设置或维持第二质荷比范围的第二发射电流来检测第二离子物种;以及使用所述检测到的第一和第二离子物种来校准所述质谱仪的质量分析器的质量范围,从而调谐所述质量分析器的分辨率或调谐所述质谱仪的离子光学。 | ||
搜索关键词: | 减少 校准 调谐 期间 检测器 耗损 | ||
【主权项】:
1.一种操作质谱仪的方法,包括:使用检测器的第一增益设置或维持第一质荷比范围的第一发射电流来检测第一离子物种;使用所述检测器的第二增益设置或维持第二质荷比范围的第二发射电流来检测第二离子物种;以及使用所述检测到的第一和第二离子物种来校准所述质谱仪的质量分析器的质量范围,从而调谐所述质量分析器的分辨率或调谐所述质谱仪的离子光学。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于萨默费尼根有限公司,未经萨默费尼根有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810257300.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种半导体芯片生产工艺
- 下一篇:用于电子电离离子源的系统和方法