[发明专利]半导体元件及用于制造半导体元件的方法在审
申请号: | 201810214160.4 | 申请日: | 2018-03-15 |
公开(公告)号: | CN108630597A | 公开(公告)日: | 2018-10-09 |
发明(设计)人: | 黄彦智;陈育裕 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/311 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 桑敏 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本公开涉及半导体元件及用于制造半导体元件的方法。一种用于制造半导体元件的方法包括:形成覆盖半导体元件的元件层的硬掩模层、在硬掩模层上形成心轴底层、以及在心轴底层上形成心轴层。心轴层具有沿第一方向延伸的多条心轴线。在心轴底层中形成在基本垂直于第一方向的第二方向上延伸的多个开口。在心轴底层和心轴层上形成间隔层。间隔层填充心轴底层中的多个开口。去除间隔层的一些部分以暴露心轴底层的上表面和心轴层的上表面,并且去除心轴层。通过使用间隔层的剩余部分作为掩模,去除心轴底层和硬掩模层,以形成具有沿第一方向延伸的第一硬掩模图案线和沿第二方向延伸的第二硬掩模图案线的硬掩模图案。 | ||
搜索关键词: | 心轴 半导体元件 间隔层 硬掩模图案 方向延伸 硬掩模层 去除 上表面 开口 制造 填充心轴 心轴线 元件层 掩模 垂直 暴露 覆盖 延伸 | ||
【主权项】:
1.一种用于制造半导体元件的方法,包括:形成覆盖半导体元件的元件层的硬掩模层;在所述硬掩模层上形成心轴底层;在所述心轴底层上形成心轴层,其中所述心轴层具有沿第一方向延伸的多条心轴线;在所述心轴底层中形成在基本垂直于所述第一方向的第二方向上延伸的多个开口;在所述心轴底层和所述心轴层上形成间隔层,其中所述间隔层填充所述心轴底层中的所述多个开口;去除所述间隔层的一些部分以暴露所述心轴底层的上表面和所述心轴层的上表面;去除所述心轴层;以及通过使用所述间隔层的剩余部分作为掩模,将所述心轴底层和所述硬掩模层图案化,以形成具有沿所述第一方向延伸的第一硬掩模图案线和沿所述第二方向延伸的第二硬掩模图案线的硬掩模图案。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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