[发明专利]基于比例式的芯片电流测量方法有效
| 申请号： | 201810205676.2 | 申请日： | 2018-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN108414919B | 公开（公告）日： | 2021-03-02 |
| 发明（设计）人： | 叶永杭;陈鹏飞;周笛 | 申请（专利权）人： | 北京比特大陆科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张霞 |
| 地址： | 100192 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种基于比例式的芯片电流测量方法，该方法将被测量芯片中的总电流平均分配到n根金属导电线上，通过测量单根金属导电线上的电流值，再乘以比例因子n从而得到总电流值。本发明实施例能够测量芯片工作中的大电流，解决了被测量芯片中的待测电流超过电流钳测量量程而无法进行测量的问题，并且能够保证芯片电流测量的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 比例式 芯片 电流 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于比例式的芯片电流测量方法，其特征在于，包括：步骤S1，在被测量芯片的测试PCB板上预留测量电流用的接口；步骤S2，将所述PCB板上的电源平面层断开，得到第一电源平面层和第二电源平面层，并在PCB板的表层对断开的第一电源平面层和第二电源平面层分别做开窗处理，得到第一开窗区域和第二开窗区域，将n根相同长度的同规格的金属导电线的两端分别焊接在所述第一开窗区域和第二开窗区域，从而将所述第一电源平面层和第二电源平面层重新连接起来，n为大于1的整数；步骤S3，测量所述n根相同长度的同规格的金属导电线中任意一根金属导电线上的电流值，将测量得到的电流值乘以n，从而得到被测量芯片中的总电流。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京比特大陆科技有限公司，未经北京比特大陆科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810205676.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：兼容性测试装置及方法
- 下一篇：线路板测试设备
