[发明专利]一种介质阵列开关有效

专利信息
申请号: 201810194309.7 申请日: 2018-03-09
公开(公告)号: CN108398736B 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 龚荣洲;牛晓燕;王鲜;祁冬 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G02B5/00 分类号: G02B5/00;H01P1/10
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人: 赵伟
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明属于电磁波开关技术领域,公开了一种介质阵列开关,包括基座、设置在基座上由M*N根介质柱构成的介质阵列以及设置在介质阵列两侧的加热部件;介质阵列的介质柱之间填充有熔点低且熔化后流动性强的物质;工作时,入射波从平行于基座的方向射入,对填充物进行加热;当加热温度达到填充物熔点时填充物熔化,介质柱间隙内填充物为环境气体,使得介质柱柱体部分的介电常数发生变化,从而引起介质阵列开关对特定波段电磁波的透射率发生变化,以实现电磁波通过或被阻断的开关功能;本介质阵列开关能够阻绝外界电磁波通过,可以不受外部电磁干扰的影响,抗干扰特性好;适用于通信波段、红外波段,应用波长范围极宽;开关性能明显,且稳定性高。
搜索关键词: 一种 介质 阵列 开关
【主权项】:
1.一种介质阵列开关,其特征在于,包括基座、设置在基座上由M*N根介质柱构成的介质阵列以及设置在介质阵列两侧的加热部件;M的取值范围为10~20,N的取值范围为8~16;介质阵列的介质柱之间具有填充物;工作时,入射波从平行于基座的方向射入,对填充物进行加热;当加热温度达到填充物熔点时填充物熔化,介质柱间隙之间为环境气体所填充,使得介质柱柱体部分的介电常数发生变化,引起介质阵列开关对特定波段电磁波的透射率发生变化,实现电磁波通过或被阻断的开关功能。
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