[发明专利]基于电双稳特性的单层聚合物电存储器及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201810166367.9 申请日: 2018-02-28
公开(公告)号: CN108447989A 公开(公告)日: 2018-08-24
发明(设计)人: 石胜伟;李文婷 申请(专利权)人: 武汉工程大学
主分类号: H01L51/05 分类号: H01L51/05;H01L51/30;H01L51/40
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 崔友明;闭钊
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种基于电双稳特性的单层聚合物电存储器及其制造方法。该电存储器包括玻璃衬底或PET衬底或PI衬底、ITO底电极、PEDOT:PSS空穴注入层、MEH‑PPV或PFO或P‑PPV光电聚合物活性功能层以及金属顶电极,各层通过溶液旋涂或蒸镀而成。本发明提供的电存储器件结构简单,具有优良的电双稳态特性、存储响应速度以及稳定性,其读写过程无论在高导态还是低导态都有较低的误读率,即便开关百万次以上电流也没有明显变化。
搜索关键词: 电存储器 衬底 单层聚合物 电双稳特性 电存储器件 光电聚合物 金属顶电极 空穴注入层 电双稳态 活性功能 底电极 读写 高导 误读 旋涂 蒸镀 制造 存储 玻璃 响应
【主权项】:
1.基于电双稳特性的单层聚合物电存储器,其特征在于,该单层聚合物电存储器的结构包括自下而上的衬底、底电极、空穴注入层、光电聚合物活性功能层以及顶电极,其中光电聚合物活性功能层选自MEH‑PPV、PFO、P‑PPV中的一种。
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