[发明专利]三维闪存器件的制造方法在审
申请号: | 201810108234.6 | 申请日: | 2018-02-02 |
公开(公告)号: | CN108389862A | 公开(公告)日: | 2018-08-10 |
发明(设计)人: | 黄显相 | 申请(专利权)人: | 株式会社HPSP;浦项工科大学校产学协力团 |
主分类号: | H01L27/11551 | 分类号: | H01L27/11551;H01L27/11578 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 丁文蕴;李平 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明涉及以可防止泄漏电流的增加并维持记录保存性的方式对三维垂直闪存器件进行高压氢热处理及湿式热处理的三维闪存器件的制造方法,本发明包括:以多层的方式在基板上层叠导电层和绝缘层来形成层叠膜的步骤;在上述层叠膜形成蚀刻孔的步骤;去除上述导电层并形成闭塞绝缘膜的步骤;对上述闭塞绝缘膜执行湿式高压热处理的步骤;在上述闭塞绝缘膜上形成电荷储存膜的步骤;在上述电荷储存膜上形成隧道绝缘膜的步骤;沿着上述蚀刻孔形成通道的步骤;以及在上述隧道绝缘膜内形成栅极电极的步骤,在本发明中,对上述闭塞绝缘膜、电荷储存膜、隧道绝缘膜执行高压氢热处理,从而可防止泄露电流的增加所引起的问题,可改善通道的移动性。 | ||
搜索关键词: | 热处理 绝缘膜 隧道绝缘膜 电荷储存 闪存器件 闭塞 三维 层叠膜 导电层 高压氢 蚀刻孔 湿式 绝缘层 基板上层 记录保存 泄漏电流 泄露电流 栅极电极 移动性 多层 去除 制造 垂直 | ||
【主权项】:
1.一种三维闪存器件的制造方法,其特征在于,包括:以多层的方式在基板上层叠导电层和绝缘层来形成层叠膜的步骤;在上述层叠膜形成蚀刻孔的步骤;去除上述导电层并形成闭塞绝缘膜的步骤;对上述闭塞绝缘膜执行湿式高压热处理的步骤;在上述闭塞绝缘膜上形成电荷储存膜的步骤;在上述电荷储存膜上形成隧道绝缘膜的步骤;沿着上述蚀刻孔形成通道的步骤;以及在上述隧道绝缘膜内形成栅极电极的步骤,对隧道绝缘膜与通道的界面执行高压氢热处理。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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