[发明专利]一种纳米铁芯饱和电压快速测试方法在审
| 申请号： | 201810097258.6 | 申请日： | 2018-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN108333422A | 公开（公告）日： | 2018-07-27 |
| 发明（设计）人： | 兰杰华;梁红军;李升铨;昌赛 | 申请（专利权）人： | 深圳市普乐华科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/25 | 分类号： | G01R19/25 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 谈杰 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种纳米铁芯饱和电压快速测试方法，包括如下步骤：设备调试，对纳米铁芯饱和电压测试仪通电检测，并校准系统误差；设定纳米铁芯饱和电压测试仪测试频率；将测试线穿过被测纳米铁芯；打开电源开关，并调节电流旋钮和电压调节旋钮调整电路中的电流和电压，直至电路中电流达到设定值，并记录此时的电压值；计算该纳米铁芯的磁通密度，还包括快速测试的装置，只需要将测试线缠绕在待测的纳米铁芯上，通过记录或者测量测试电压U，导通时间Ton，测试线圈数N，被测纳米铁芯截面积Bs就可以快速的获得磁通密度，能够根据不同的测试要求准确不同条件下的磁通密度，测试简单、测试速度快，数据准确。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米铁芯 饱和电压 快速测试 磁通 测试线 测试仪 电压调节旋钮 测试 不同条件 测试电压 测试频率 测试线圈 测试要求 电流旋钮 电源开关 调整电路 设备调试 通电检测 校准系统 导通 记录 缠绕 测量 电路 穿过 | ||
【主权项】：
1.一种纳米铁芯饱和电压快速测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤100、设备调试，对纳米铁芯饱和电压测试仪通电检测，并校准系统误差；步骤200、设定纳米铁芯饱和电压测试仪测试频率；步骤300、将测试线穿过被测纳米铁芯；步骤400、打开电源开关，并调节电流旋钮和电压调节旋钮调整电路中的电流和电压，直至电路中电流达到设定值，并记录此时的电压值；步骤500、计算该纳米铁芯的磁通密度。
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