[发明专利]一种纳米铁芯饱和电压快速测试方法

权利要求书

1.一种纳米铁芯饱和电压快速测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤100、设备调试，对纳米铁芯饱和电压测试仪通电检测，并校准系统误差；

步骤200、设定纳米铁芯饱和电压测试仪测试频率；

步骤300、将测试线穿过被测纳米铁芯；

步骤400、打开电源开关，并调节电流旋钮和电压调节旋钮调整电路中的电流和电压，直至电路中电流达到设定值，并记录此时的电压值；

步骤500、计算该纳米铁芯的磁通密度。

2.根据权利要求1所述的一种纳米铁芯饱和电压快速测试方法，其特征在于，在步骤300中，测试线等间距均匀的缠绕在被测纳米铁芯上，且将测试线两端固定，并记录测试线缠绕圈数为N。

3.根据权利要求1所述的一种纳米铁芯饱和电压快速测试方法，其特征在于，在步骤500中，磁通密度ΔB的计算公式为：

其中，U为测试电压，T_on为导通时间，N为测试线圈数，B_s为被测纳米铁芯截面积。

4.根据权利要求1所述的一种纳米铁芯饱和电压快速测试装置，其特征在于，包括纳米铁芯饱和电压测试仪(1)和测量线(2)，所述测量线(2)两端通过连接端子分别与纳米铁芯饱和电压测试仪(1)的端口连接。

5.根据权利要求4所述的一种纳米铁芯饱和电压快速测试装置，其特征在于，所述纳米铁芯饱和电压测试仪(1)上设有分别用于调整电流和电压的电流旋钮(3)和电压旋钮(4)，且在电流旋钮(3)和电压旋钮(4)上方分别设有用于显示的电流显示表(5)和电压显示表(6)。