[发明专利]对相位分辨局部放电的评估有效
| 申请号： | 201810092533.5 | 申请日： | 2018-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN108375718B | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | J.T.帕姆;M.霍贝尔斯伯格 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 徐予红;张金金 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及相位分辨局部放电(PD)的评估。本发明的一种方法包括通过被配置成检测电气装备中的PD过程的测量装置提供Phiqn阵列。所述电气装备可包括高电压绝缘。所述方法进一步包括通过以通信方式连接到所述测量装置的装备控制器使存在于所述Phiqn阵列中的至少一个Phiqn图案与几何形状相关联。所述方法还包括通过所述装备控制器而跟踪所述Phiqn阵列中的所述几何形状的参数。所述方法还包括通过所述装备控制器且基于所述几何形状的所述参数而确定与所述Phiqn图案相关联的放电强度。 | ||
| 搜索关键词： | 相位 分辨 局部 放电 评估 | ||
【主权项】：
1.一种用于评估相位分辨局部放电(PD)的系统，所述系统包括：测量装置，其被配置成检测电气装备的高电压绝缘中的至少一个PD过程且提供多个Phiqn阵列；以及装备控制器，其以通信方式连接到所述测量装置，所述装备控制器被配置成：使存在于所述多个Phiqn阵列中的至少一个Phiqn阵列中的至少一个Phiqn图案与几何形状相关联；跟踪与所述多个PD图像中的所述几何形状相关联的参数；基于与所述几何形状相关联的所述参数来确定与所述至少一个Phiqn图案相关联的放电强度；以及基于所述放电强度来提供指示所述高电压绝缘的绝缘质量的信号。
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