[发明专利]积层配线构造体及积层配线构造体的制造方法、以及半导体装置在审

专利信息
申请号: 201810088725.9 申请日: 2018-01-30
公开(公告)号: CN109545786A 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 冨松孝宏 申请(专利权)人: 东芝存储器株式会社
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L27/11582;H01L27/1157;H01L27/11556;H01L27/11524
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 杨林勳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种积层配线构造体及积层配线构造体的制造方法、以及半导体装置。实施方式的积层配线构造体具备:第1积层部,将第1导电体与第1绝缘体交替地积层,且包含具有存储单元的第1区域、以及与第1区域不同的第2区域;多个第1接触插塞,在第2区域内,形成在从第1积层部的最上层分别到达至第1导电体的多个第1孔内,且侧面被第1绝缘膜覆盖;以及多个支柱,在第2区域内,在第1积层部的积层方向上穿过第1积层部内,且由第2绝缘体形成。
搜索关键词: 积层 配线构造 绝缘体 半导体装置 导电体 存储单元 接触插塞 绝缘膜 最上层 制造 侧面 穿过 覆盖
【主权项】:
1.一种积层配线构造体,其特征在于具备:第1积层部,将第1导电体与第1绝缘体交替地积层,且包含具有存储单元的第1区域、以及与所述第1区域不同的第2区域;多个第1接触插塞,在第2区域内,形成在从所述第1积层部的最上层分别到达至所述第1导电体的多个第1孔内,且侧面被第1绝缘膜覆盖;以及多个支柱,在所述第2区域内,在所述第1积层部的积层方向上穿过所述第1积层部内,且由第2绝缘体形成。
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