[发明专利]积层配线构造体及积层配线构造体的制造方法、以及半导体装置在审
申请号: | 201810088725.9 | 申请日: | 2018-01-30 |
公开(公告)号: | CN109545786A | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 冨松孝宏 | 申请(专利权)人: | 东芝存储器株式会社 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L27/11582;H01L27/1157;H01L27/11556;H01L27/11524 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 杨林勳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种积层配线构造体及积层配线构造体的制造方法、以及半导体装置。实施方式的积层配线构造体具备:第1积层部,将第1导电体与第1绝缘体交替地积层,且包含具有存储单元的第1区域、以及与第1区域不同的第2区域;多个第1接触插塞,在第2区域内,形成在从第1积层部的最上层分别到达至第1导电体的多个第1孔内,且侧面被第1绝缘膜覆盖;以及多个支柱,在第2区域内,在第1积层部的积层方向上穿过第1积层部内,且由第2绝缘体形成。 | ||
搜索关键词: | 积层 配线构造 绝缘体 半导体装置 导电体 存储单元 接触插塞 绝缘膜 最上层 制造 侧面 穿过 覆盖 | ||
【主权项】:
1.一种积层配线构造体,其特征在于具备:第1积层部,将第1导电体与第1绝缘体交替地积层,且包含具有存储单元的第1区域、以及与所述第1区域不同的第2区域;多个第1接触插塞,在第2区域内,形成在从所述第1积层部的最上层分别到达至所述第1导电体的多个第1孔内,且侧面被第1绝缘膜覆盖;以及多个支柱,在所述第2区域内,在所述第1积层部的积层方向上穿过所述第1积层部内,且由第2绝缘体形成。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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