[发明专利]一种激光功率调节方法及系统在审
申请号: | 201810019630.1 | 申请日: | 2018-01-09 |
公开(公告)号: | CN108297402A | 公开(公告)日: | 2018-07-20 |
发明(设计)人: | 张李超;张楠;陈锦锋;赵祖烨;史玉升 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | B29C64/153 | 分类号: | B29C64/153;B29C64/386;B33Y50/00 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 王戈 |
地址: | 430000 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种激光功率调节方法及系统。该方法包括:获取制造物体的三维立体模型;根据设定的高度阈值对所述三维立体模型进行切片,得到多个切片位图,所述切片位图包括多个像素点;提取所述切片位图的轮廓边界的第一像素点;判断所述切片位图内存在的第二像素点与所述第一像素点的距离是否在距离阈值范围内;若是,则确定所述第二像素点为待处理像素点;若否,则确定所述第二像素点为未处理像素点;采用高斯滤波函数对所述第一像素点和所述待处理像素点进行处理,得到处理后的像素点;获取所述处理后的像素点的灰度值以及未处理像素点的灰度值;根据各所述灰度值调节扫描所述处理后的像素点以及未处理像素点时的激光功率。 | ||
搜索关键词: | 像素点 切片 未处理 灰度 激光功率调节 三维立体模型 待处理像素 高斯滤波 激光功率 轮廓边界 扫描 制造 | ||
【主权项】:
1.一种激光功率调节方法,其特征在于,所述方法包括:获取制造物体的三维立体模型;根据设定的高度阈值对所述三维立体模型进行切片,得到多个切片位图,所述切片位图包括多个像素点;提取所述切片位图的轮廓边界的第一像素点;判断所述切片位图内存在的第二像素点与所述第一像素点的距离是否在距离阈值范围内;若是,则确定所述第二像素点为待处理像素点;若否,则确定所述第二像素点为未处理像素点;采用高斯滤波函数对所述第一像素点和所述待处理像素点进行处理,得到处理后的像素点;获取所述处理后的像素点的灰度值以及未处理像素点的灰度值;根据各所述灰度值调节扫描所述处理后的像素点以及未处理像素点时的激光功率。
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