[发明专利]用于测试包括多个辐射元件的天线的方法和系统有效
| 申请号： | 201780090793.2 | 申请日： | 2017-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN110741264B | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | 卢多维奇·杜兰德;吕克·杜谢恩;尼古拉斯·格罗斯 | 申请（专利权）人： | MVG工业公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 王小衡;王朝辉 |
| 地址： | 法国维*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测试包括多个辐射元件的天线的方法和系统，其中一个或多个探针的阵列被放置在将被测试的天线的前面，并且其中执行以下步骤：通过所述一个或多个探针的阵列或者通过受测试的天线的辐射元件获取受测试的天线或所述一个或多个探针的阵列发射的RF信号，通过计算所述一个或多个探针的阵列的各个探针或受测试的天线的辐射元件接收的信号来对发射的信号进行反向传播重构，对如此重构的信号或其参数进行测试以检测天线的潜在缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 包括 辐射 元件 天线 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试包括多个辐射元件的天线的方法，其中一个或多个探针的阵列被放置在将被测试的天线的前面，并且其中执行以下步骤：/n-通过所述一个或多个探针的阵列的每个探针获取受测试的天线发射的RF信号，或者通过受测试的天线获取所述一个或多个探针的阵列的每个探针发射的RF信号，/n-通过计算所述一个或多个探针的阵列的各个探针接收或发射的信号来对所述一个或多个探针的阵列的每个探针接收或发射的信号进行反向传播重构，/n-对如此重构的信号或其参数进行测试以检测所述天线的潜在缺陷。/n
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