[发明专利]用于测试包括多个辐射元件的天线的方法和系统

说明书

本发明涉及一种用于测试包括多个辐射元件的天线的方法和系统，其中一个或多个探针的阵列被放置在将被测试的天线的前面，并且其中执行以下步骤：通过所述一个或多个探针的阵列或者通过受测试的天线的辐射元件获取受测试的天线或所述一个或多个探针的阵列发射的RF信号，通过计算所述一个或多个探针的阵列的各个探针或受测试的天线的辐射元件接收的信号来对发射的信号进行反向传播重构，对如此重构的信号或其参数进行测试以检测天线的潜在缺陷。

技术领域

本发明涉及在天线的制造期间测试天线。

更具体地说，本发明提出了一种用于在生产中测试天线的测试方法和测试系统。

所提出的测试方法和系统在诸如基站天线(BTS)的阵列天线的情况下是特别有益的。BTS由几个阵列天线(几个端口)形成。

背景技术

阵列天线通常由多个辐射元件形成，这些辐射元件经由电缆链接到在相位和幅值上控制所述辐射元件的电路。

这些电缆可以被手动焊接到辐射元件，并且诸如以下的缺陷可以存在：

-不良焊接(导致短路)；

-无焊接(导致开路)；

-错误位置焊接(导致两个元件之间(诸如与两个不同的偏振相对应的两个元件之间)的调换)。

基站和阵列天线越来越复杂，需要缩短它们的测试所花费的时间并且降低报废率。

生产测试仪常用于在生产期间执行相位-幅值测试。通常，单个探针或一个或多个探针的阵列被围绕天线移动以测量发送的信号。这样的测试仪可以检测到天线没有适当地工作，但是没有给予问题来自天线内哪里的指示和缺陷的性质。此外，这些测试仪非常耗时。

发明内容

因此，本发明旨在进一步改进用于天线的测试仪。

为此，公开了一种用于测试包括多个辐射元件的天线的方法，其中一个或多个探针的阵列被放置在将被测试的天线的前面，并且其中执行以下步骤：

·通过所述一个或多个探针的阵列的每个探针获取受测试的天线发射的RF信号，或者通过受测试的天线获取所述一个或多个探针的阵列的每个探针发射的RF信号，

·通过计算所述一个或多个探针的阵列的各个探针接收或发射的信号来对所述一个或多个探针的阵列的每个探针接收或发射的信号进行反向传播重构，

·对如此重构的信号或其参数进行测试以检测所述天线的潜在缺陷。

反向重构可以是无限重构，并且其中计算如此重构的信号以确定倾斜角度、束宽和旁瓣电平，所述倾斜角度、束宽和旁瓣电平被测试以检测所述天线的潜在缺陷。

在补充中或者作为替代，反向传播重构在靠近被测试的天线的辐射元件或者与被测试的天线的辐射元件一致的表面上重构所述信号，并且其中所述方法进一步执行以下步骤：

·将对受测试的天线的辐射元件中的每个如此重构的信号的幅值和/或相位与对用作参考的一个金质天线或几个金质天线的平均水平的对应的辐射元件重构的信号的幅值和/或相位进行比较，该比较的结果被用于决定缺陷检测。

这样的测试方法具有不耗时的优点。它提供关于天线的哪个辐射元件具有缺陷的信息，并且使得可以诊断缺陷的类型。

这样的方法进一步可能补充有单独地或组合地发生的以下特征：

-对受测试的天线的给定的辐射元件检测缺陷，其中对金质天线的对应元件和对受测试的天线的所述辐射元件重构的信号的幅值和/或相位相差超过预定容限帧；

-如果缺陷被检测到，则测试与两个垂直偏振相对应的两个辐射元件是否已经被调换；