[发明专利]用于光学检测至少一个对象的检测器有效
| 申请号： | 201780083725.3 | 申请日： | 2017-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN110178045B | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | C·伦纳茨;C·D·席尔德克内希特;C·朗根施密德;C·哈恩;I·布鲁德;M·埃伯斯帕奇;C·M·奥古恩;P·辛德勒;P·费耶斯;P·席伦;R·森德;S·瓦鲁施;S·亨根;T·奥默;W·赫尔梅斯 | 申请（专利权）人： | 特里纳米克斯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/481 | 分类号： | G01S7/481;G01S17/46;G01S3/783;G01S5/16;G01S7/48;G01S11/12 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 牛南辉;杨晓光 |
| 地址： | 德国莱茵河*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提出了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110,1110,2110)。所述检测器(110,1110,2110)包括：至少一个传送装置(128,1128)，其中所述传送装置(128,1128)响应于从所述对象(112,1112)传播到所述检测器(110,1110,2110)的至少一个入射光束(116,1116)而具有至少一个焦距；至少两个光学传感器(113,1118,1120)，其中每个光学传感器(113,1118,1120)具有至少一个光敏区域(121,1122,1124)，其中每个光学传感器(113,1118,1120)被设计为响应于所述光束(116,1116)对其各自的光敏区域的照射而产生至少一个传感器信号；至少一个评估装置(132,1132)，被配置用于通过评估来自所述传感器信号的商信号Q来确定所述对象(112,1112)的至少一个纵向坐标z。所述检测器适于独立于对象平面中的对象尺寸在至少一个测量范围中确定所述对象的所述纵向坐标z。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 检测 至少 一个 对象 检测器 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定至少一个对象(112,1112)的位置的检测器(110,1110,2110)，所述检测器(110,1110,2110)包括：‑至少一个传送装置(128,1128,2128)，其中所述传送装置(128,1128,2128)响应于从所述对象(112,1112,2112)传播到所述检测器(110,1110,2110)的至少一个入射光束(116,1116)而具有至少一个焦距；‑至少两个光学传感器(113,1118,1120,2113)，其中每个光学传感器(113,1118,1120)具有至少一个光敏区域(121,1122,1124,2121)，其中每个光学传感器(113,1118,1120,2113)被设计为响应于所述光束(116,1116,2131)对其各自的光敏区域的照射而产生至少一个传感器信号，‑至少一个评估装置(132,1132,2133)，被配置用于通过评估来自所述传感器信号的商信号Q来确定所述对象(112,1112,2112)的至少一个纵向坐标z；其中，所述检测器适于独立于对象平面中的对象尺寸在至少一个测量范围中确定所述对象的所述纵向坐标z。
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