[发明专利]测定聚合物的阴离子电荷密度的方法有效
| 申请号： | 201780083281.3 | 申请日： | 2017-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN110168046B | 公开（公告）日： | 2022-08-16 |
| 发明（设计）人： | 赛德瑞克·法弗罗;奥利维埃·布劳恩;雷诺·苏西;亚瑟·马拉斯;托马斯·布莱哈特 | 申请（专利权）人： | SPCM股份公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N1/38 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 刘明海;胡彬 |
| 地址： | 法国安德雷*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种根据以下步骤测定样本中存在的至少一种聚合物的阴离子电荷密度的方法：‑使存在于样本中的至少一种聚合物与包含镧系元素(III)离子的显影剂溶液接触，并使其能够与所述显影剂溶液相互作用，‑在激发波长λ |
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| 搜索关键词： | 测定 聚合物 阴离子 电荷 密度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测定存在于样本中的至少一种聚合物的阴离子电荷密度的方法，其采用以下步骤：‑使存在于样本中的至少一种聚合物与包含镧系元素(III)离子的显影剂溶液接触，并使其能够与所述显影剂溶液相互作用，‑在激发波长λexc下激发样本，并通过时间分辨光致发光在发射波长λem处检测源自已经与所述至少一种聚合物相互作用的镧系元素(III)离子的信号，和‑使用在发射波长λem处检测到的信号来测定所述样本中的至少一种聚合物的阴离子电荷密度。
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