[发明专利]测定聚合物的阴离子电荷密度的方法有效
申请号: | 201780083281.3 | 申请日: | 2017-12-15 |
公开(公告)号: | CN110168046B | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
发明(设计)人: | 赛德瑞克·法弗罗;奥利维埃·布劳恩;雷诺·苏西;亚瑟·马拉斯;托马斯·布莱哈特 | 申请(专利权)人: | SPCM股份公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N1/38 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 刘明海;胡彬 |
地址: | 法国安德雷*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测定 聚合物 阴离子 电荷 密度 方法 | ||
1.一种测定存在于样本中的至少一种聚合物的阴离子电荷密度的方法,其采用以下步骤:
-使存在于样本中的至少一种聚合物与包含镧系元素(III)离子的显影剂溶液接触,并使其能够与所述显影剂溶液相互作用,
-在激发波长λexc下激发样本,并通过时间分辨光致发光在发射波长λem处检测源自已经与所述至少一种聚合物相互作用的镧系元素(III)离子的信号,和
-根据以下方案使用在发射波长λem处检测到的信号来测定所述样本中的至少一种聚合物的阴离子电荷密度:
1)通过用水连续稀释已知阴离子度的聚合物的不同原溶液来制备不同的样本系列,然后用镧系元素显影剂溶液稀释来自每个系列的样本,并通过时间分辨荧光(TRF)进行分析;测量参数以及发射和激发波长根据镧系元素的类型进行调整,
2)对于每个系列,外推TRF信号强度相对稀释率曲线的斜率,并且得到了斜率相对阴离子度校准曲线,
3)然后通过连续稀释具有未知阴离子度的样本X来制备新的样本系列,在对这些样本进行TRF测量之后,外推TRF信号强度相对稀释率曲线的斜率,
4)在将3)中的外推斜率与2)中得到的阴离子度校准线相关联之后,推断样本X的先前未知的阴离子度;
所述至少一种聚合物包含一个或多个阴离子电荷。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述样本来自采油或采气过程的产出水。
3.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于所述时间分辨光致发光是时间分辨荧光。
4.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于存在于所述样本中的至少一种聚合物是至少一种水溶性阴离子单体和至少一种非离子单体(A)和任选的至少一种阳离子或两性离子单体的聚合物。
5.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于所述镧系元素(III)离子选自铕、铽、钐或镝离子。
6.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于所述镧系元素(III)离子是铕或铽离子。
7.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于在使所述样本与所述显影剂溶液接触之前,向所述样本中按基于所述样本的重量计加入1ppm与10000ppm之间的量的镧系元素(III)离子。
8.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于所述激发波长λexc位于200nm与600nm之间,并且所述发射波长λem位于300nm与800nm之间。
9.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于在所述样本被激发之前,向所述样本中加入包含阳离子化合物的信号调节剂。
10.根据前述权利要求之一所述的方法,其特征在于所述方法包含在添加包含镧系元素(III)离子的显影剂溶液之前的样本纯化步骤。
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