[发明专利]颗粒状物质检测装置在审
申请号: | 201780077511.5 | 申请日: | 2017-12-14 |
公开(公告)号: | CN110114660A | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
发明(设计)人: | 小池和彦;宫川豪 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | G01N27/04 | 分类号: | G01N27/04;G01N15/06 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 朴勇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 具备输出与颗粒状物质的量对应的信号的传感器部(1)、以及检测颗粒状物质的颗粒数(N)的传感器控制部(4)。所述传感器控制部具有向一对电极(21)、(22)施加第1电压使颗粒状物质被静电捕集的捕集控制部(41)、以及颗粒数计算部(42),该颗粒数计算部(42)在所述第1电压下的所述传感器输出达到阈值的状态下,向与所述第1电压不同的第2电压变更后,检测所述一对电极间的电阻值(R),使用根据所述电阻值推断的颗粒状物质的平均粒径(D)、以及根据所述传感器输出推断的颗粒状物质的质量(M)来计算所述颗粒数。 | ||
搜索关键词: | 颗粒状物质 颗粒数 传感器控制部 电极 计算部 传感器 捕集 电阻 输出 推断 传感器部 电压变更 检测装置 平均粒径 静电 颗粒状 检测 施加 | ||
【主权项】:
1.一种颗粒状物质检测装置,对被测定气体中包含的颗粒状物质进行检测,其特征在于,具备:传感器部(1),具有在暴露于被测定气体的基体(11)的表面配置有相互分离的一对电极(21、22)的检测部(2),输出与被所述检测部静电捕集的颗粒状物质的量相应的信号;以及传感器控制部(4),基于从所述传感器部发送的传感器输出(V),检测被所述检测部静电捕集到的颗粒状物质的颗粒数(N),所述传感器控制部具有:捕集控制部(41),向所述检测部的所述一对电极之间施加第1电压,使所述检测部静电捕集颗粒状物质;以及颗粒数计算部(42),在所述第1电压下的所述传感器输出达到了阈值的状态下,将向所述一对电极之间施加的施加电压变更为与所述第1电压不同的第2电压之后,检测所述一对电极之间的电阻值(R),使用根据所述电阻值推断的颗粒状物质的平均粒径(D)、以及根据所述传感器输出推断的颗粒状物质的质量(M),计算所述颗粒数。
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