[发明专利]颗粒状物质检测装置

权利要求书

1.一种颗粒状物质检测装置，对被测定气体中包含的颗粒状物质进行检测，其特征在于，具备：

传感器部(1)，具有在暴露于被测定气体的基体(11)的表面配置有相互分离的一对电极(21、22)的检测部(2)，输出与被所述检测部静电捕集的颗粒状物质的量相应的信号；以及

传感器控制部(4)，基于从所述传感器部发送的传感器输出(V)，检测被所述检测部静电捕集到的颗粒状物质的颗粒数(N)，

所述传感器控制部具有：

捕集控制部(41)，向所述检测部的所述一对电极之间施加第1电压，使所述检测部静电捕集颗粒状物质；以及

颗粒数计算部(42)，在所述第1电压下的所述传感器输出达到了阈值的状态下，将向所述一对电极之间施加的施加电压变更为与所述第1电压不同的第2电压之后，检测所述一对电极之间的电阻值(R)，使用根据所述电阻值推断的颗粒状物质的平均粒径(D)、以及根据所述传感器输出推断的颗粒状物质的质量(M)，计算所述颗粒数。

2.如权利要求1所述的颗粒状物质检测装置，其中，

所述颗粒数计算部具有：

电压控制部(421)，在用于静电捕集的所述第1电压下的所述传感器输出达到所述阈值的时刻，将向所述一对电极之间施加的施加电压变更为用于使颗粒状物质的捕集状态发生变化的所述第2电压之后，控制为与所述第2电压相同或不同的、用于检测电极间电阻的检测用电压；以及

电极间电阻检测部(422)，检测所述检测用电压下的所述一对电极之间的电阻值(R)。

3.一种颗粒状物质检测装置，对被测定气体中包含的颗粒状物质进行检测，其特征在于，具备：

传感器部(1)，具有在暴露于被测定气体的基体(11)的表面配置有相互分离的一对电极(21、22)的检测部(2)，输出与被所述检测部静电捕集的颗粒状物质的量相应的信号；以及

传感器控制部(4)，基于从所述传感器部发送的传感器输出(V)，检测被所述检测部静电捕集到的颗粒状物质的颗粒数(N)，

所述传感器控制部具有：

捕集控制部(41)，向所述检测部的所述一对电极之间施加第1电压，使所述检测部静电捕集颗粒状物质；以及

颗粒数计算部(42)，在所述第1电压下的所述传感器输出达到了阈值的状态下，将向所述一对电极之间施加的施加电压变更为与所述第1电压不同的第2电压之后，检测大小不同的多个电压下的所述一对电极之间的电阻值(R，R1)，使用根据所述电阻值推断的颗粒状物质的平均粒径(D)、以及根据所述传感器输出推断的颗粒状物质的质量(M)，计算所述颗粒数。

4.如权利要求3所述的颗粒状物质检测装置，其中，

所述颗粒数计算部具有：

电压控制部(421)，在用于静电捕集的所述第1电压下的所述传感器输出达到所述阈值的时刻，将向所述一对电极之间施加的施加电压变更为用于使颗粒状物质的捕集状态发生变化的所述第2电压之后，依次控制为成为用于检测电极间电阻的检测用电压的所述多个电压；以及

电极间电阻检测部(422)，分别检测所述多个电压下的所述一对电极之间的电阻值。

5.如权利要求3或4所述的颗粒状物质检测装置，其中，

所述颗粒数计算部对在所述多个电压下检测的各所述电阻值进行加权，来推断所述平均粒径。