[发明专利]辐射温度测定装置在审

专利信息
申请号: 201780075144.5 申请日: 2017-12-04
公开(公告)号: CN110036265A 公开(公告)日: 2019-07-19
发明(设计)人: 佐佐木裕之;杉山大 申请(专利权)人: 旭化成株式会社
主分类号: G01J5/06 分类号: G01J5/06;G02B5/30
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的目的在于提供一种能够防止电磁波在测定对象物发生反射所引起的温度测定精度降低的辐射温度测定装置。辐射温度测定装置(100)具备:反射型偏振片(2),其使从作为测定对象的物体辐射的电磁波中的一个方向的偏振波反射,并且使与一个方向垂直的方向的偏振波透过或将该偏振波吸收;以及红外线传感器(1),其检测反射型偏振片(2)反射的一个方向的偏振电磁波。
搜索关键词: 温度测定装置 偏振波 反射 反射型偏振片 电磁波 辐射 红外线传感器 测定对象物 偏振电磁波 测定对象 方向垂直 精度降低 温度测定 物体辐射 检测 吸收
【主权项】:
1.一种辐射温度测定装置,使用红外线传感器来以非接触方式测定物体的表面温度,所述辐射温度测定装置的特征在于,具备:红外线传感器,其用于检测从所述物体辐射的电磁波;以及偏振片,其使所述电磁波中的一个方向的偏振波反射,并且使与所述一个方向垂直的方向的偏振波透过或将该偏振波吸收,其中,所述红外线传感器检测所述偏振片所反射的一个方向的偏振电磁波。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于旭化成株式会社,未经旭化成株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201780075144.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top