[发明专利]辐射温度测定装置在审
申请号: | 201780075144.5 | 申请日: | 2017-12-04 |
公开(公告)号: | CN110036265A | 公开(公告)日: | 2019-07-19 |
发明(设计)人: | 佐佐木裕之;杉山大 | 申请(专利权)人: | 旭化成株式会社 |
主分类号: | G01J5/06 | 分类号: | G01J5/06;G02B5/30 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的在于提供一种能够防止电磁波在测定对象物发生反射所引起的温度测定精度降低的辐射温度测定装置。辐射温度测定装置(100)具备:反射型偏振片(2),其使从作为测定对象的物体辐射的电磁波中的一个方向的偏振波反射,并且使与一个方向垂直的方向的偏振波透过或将该偏振波吸收;以及红外线传感器(1),其检测反射型偏振片(2)反射的一个方向的偏振电磁波。 | ||
搜索关键词: | 温度测定装置 偏振波 反射 反射型偏振片 电磁波 辐射 红外线传感器 测定对象物 偏振电磁波 测定对象 方向垂直 精度降低 温度测定 物体辐射 检测 吸收 | ||
【主权项】:
1.一种辐射温度测定装置,使用红外线传感器来以非接触方式测定物体的表面温度,所述辐射温度测定装置的特征在于,具备:红外线传感器,其用于检测从所述物体辐射的电磁波;以及偏振片,其使所述电磁波中的一个方向的偏振波反射,并且使与所述一个方向垂直的方向的偏振波透过或将该偏振波吸收,其中,所述红外线传感器检测所述偏振片所反射的一个方向的偏振电磁波。
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