[发明专利]使用孔口限制光检测器上的噪声在审
| 申请号： | 201780063240.8 | 申请日： | 2017-10-04 |
| 公开（公告）号： | CN109844470A | 公开（公告）日： | 2019-06-04 |
| 发明（设计）人： | P-Y.德罗兹;B.加森德;C.奥纳尔;D.哈奇森 | 申请（专利权）人： | 伟摩有限责任公司 |
| 主分类号： | G01J1/44 | 分类号： | G01J1/44;G01S7/481 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 金玉洁 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本公开涉及使用孔口限制光检测器上的噪声。一个示例实施例包括一种系统。该系统包括相对于场景设置并被配置为将来自场景的光聚焦到焦平面上的透镜。该系统还包括限定在设置在透镜的焦平面处的不透明材料内的孔口。该孔口具有横截面积。另外，该系统包括光检测器的阵列，该光检测器的阵列设置在与透镜相对的焦平面的一侧上，并且被配置为截取和检测由透镜聚焦并透射通过孔口的发散光。截取发散光的光检测器的阵列的横截面积大于孔口的横截面积。 | ||
| 搜索关键词： | 光检测器 孔口 透镜 焦平面 发散光 截取 噪声 不透明材料 场景设置 透镜聚焦 阵列设置 光聚焦 通过孔 透射 配置 场景 检测 | ||
【主权项】：
1.一种系统，包括：透镜，相对于场景设置并被配置为将来自所述场景的光聚焦到焦平面上；孔口，限定在设置在所述透镜的焦平面处的不透明材料内，其中，所述孔口具有横截面积；和光检测器的阵列，设置在与所述透镜相对的所述焦平面的一侧上，并被配置为截取和检测由所述透镜聚焦并透射通过所述孔口的发散光，其中，截取所述发散光的所述光检测器的阵列的横截面积大于所述孔口的横截面积。
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