[发明专利]使用孔口限制光检测器上的噪声在审
申请号: | 201780063240.8 | 申请日: | 2017-10-04 |
公开(公告)号: | CN109844470A | 公开(公告)日: | 2019-06-04 |
发明(设计)人: | P-Y.德罗兹;B.加森德;C.奥纳尔;D.哈奇森 | 申请(专利权)人: | 伟摩有限责任公司 |
主分类号: | G01J1/44 | 分类号: | G01J1/44;G01S7/481 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 金玉洁 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光检测器 孔口 透镜 焦平面 发散光 截取 噪声 不透明材料 场景设置 透镜聚焦 阵列设置 光聚焦 通过孔 透射 配置 场景 检测 | ||
1.一种系统,包括:
透镜,相对于场景设置并被配置为将来自所述场景的光聚焦到焦平面上;
孔口,限定在设置在所述透镜的焦平面处的不透明材料内,其中,所述孔口具有横截面积;和
光检测器的阵列,设置在与所述透镜相对的所述焦平面的一侧上,并被配置为截取和检测由所述透镜聚焦并透射通过所述孔口的发散光,其中,截取所述发散光的所述光检测器的阵列的横截面积大于所述孔口的横截面积。
2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述光检测器的阵列包括多个单光子雪崩二极管(SPAD)。
3.根据权利要求1所述的系统,其中,所述阵列中的光检测器彼此并联连接。
4.根据权利要求1所述的系统,其中,所述孔口的横截面积是可调节的。
5.根据权利要求4所述的系统,其中,所述不透明材料包括光圈,所述光圈被配置为限定所述孔口的横截面积。
6.根据权利要求4所述的系统,其中,所述不透明材料包括具有两个偏振器的图案化导电电极阵列;设置在所述两个偏振器之间的一个或多个取向层;以及设置在所述两个偏振器之间的液晶层。
7.根据权利要求1所述的系统,其中,来自所述场景的光是被由光检测和测距(LIDAR)系统的发射器照明的一个或多个对象散射的光。
8.根据权利要求1所述的系统,还包括反射镜,所述反射镜被配置为将透射通过所述孔口的来自所述场景的光朝向所述光检测器的阵列反射。
9.根据权利要求1所述的系统,其中,所述光检测器对一波长范围内的光敏感。
10.根据权利要求1所述的系统,其中,所述光检测器对具有红外波长的光敏感。
11.根据权利要求1所述的系统,还包括滤光器,所述滤光器被配置为将来自所述场景的在一个或多个波长范围内的光转向以远离所述孔口,使得来自所述场景的在所述一个或多个波长范围内的光不通过所述孔口。
12.根据权利要求1所述的系统,其中,所述不透明材料包括覆盖玻璃基板的不透明掩模。
13.根据权利要求1所述的系统,其中,所述不透明材料包括金属,并且其中,所述金属被蚀刻以限定所述孔口。
14.根据权利要求1所述的系统,其中,每个光检测器占据200μm2与600μm2之间的横截面积。
15.根据权利要求1所述的系统,还包括设置在所述光检测器的阵列和所述孔口之间的漫射器,其中,所述漫射器被配置为将透射通过所述孔口的来自所述场景的光均匀地漫射在所述光检测器的阵列上。
16.根据权利要求1所述的系统,其中,所述孔口可从一组两个或更多个孔口中选择。
17.根据权利要求16所述的系统,还包括一个或多个微机电系统(MEMS)反射镜,所述一个或多个微机电系统反射镜可调节以将来自所述场景的光引向所述孔口,以从该组两个或更多个孔口中进行选择。
18.根据权利要求1所述的系统,其中,所述孔口具有非圆形形状。
19.根据权利要求1所述的系统,还包括设置在所述孔口和所述光检测器的阵列之间的结构,所述结构将透射通过所述孔口的发散光进行全内反射。
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