[发明专利]颗粒表征仪器有效
| 申请号： | 201780062043.4 | 申请日： | 2017-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN109804233B | 公开（公告）日： | 2022-11-25 |
| 发明（设计）人： | 理查德·斯卡利恩;贾森·科比特 | 申请（专利权）人： | 马尔文帕纳科公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/14;G01N21/51;G01N21/49;G01N21/47 |
| 代理公司： | 成都超凡明远知识产权代理有限公司 51258 | 代理人： | 魏彦;洪玉姬 |
| 地址： | 英国伍*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种颗粒表征仪器(200)，包括：光源(201)、样品池(202)、在光源(201)和样品池(202)之间的光学元件(204)以及检测器(203)。光学元件(204)配置为修改来自光源(201)的光以生成修改束(207)，所述修改束(207)：a)与自身干涉以沿照射轴(206)在样品池(202)中生成有效束(208)，和b)在远场中发散以沿照射轴(206)产生暗区域(209)，所述暗区域在距样品池(202)一定距离处基本上不被照射。检测器(203)，在距样品池(202)一定距离处，并配置为检测被样品池(202)中的样品从有效束(208)散射的光，检测器(203)定位成检测沿与照射轴(206)成0°至10°的角度的散射轴(306)的前向或后向散射的光。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 表征 仪器 | ||
【主权项】：
1.一种颗粒表征仪器，包括：光源；样品承载件，所述样品承载件限定样品位置；光学元件，所述光学元件位于所述光源和样品承载件之间，所述光学元件配置为修改来自所述光源的光以生成修改束，所述修改束：a)与自身干涉以沿照射轴在所述样品位置处生成有效束，和b)在远场中发散以沿所述照射轴产生暗区域，所述暗区域在距样品池一定距离处基本上不被照射；以及检测器，所述检测器距所述样品池一定距离处，配置为检测被所述样品池中的样品从所述有效束散射的光，所述检测器定位成检测沿与所述照射轴成0°至10°的角度的散射轴的前向或后向散射的光。
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