[发明专利]颗粒表征仪器

权利要求书

1.一种颗粒表征仪器，所述颗粒表征仪器被配置成执行动态光散射测量和/或静态光散射测量，包括：

光源，所述光源被配置为生成光束；

样品承载件，所述样品承载件限定样品位置；

光学元件，所述光学元件位于所述光源和样品承载件之间，所述光学元件配置为接收来自所述光源所述光束并且修改所述光束以生成修改束，所述修改束：

a)与自身干涉以沿照射轴在所述样品位置处生成有效束，和

b)在远场中发散以沿所述照射轴产生暗区域，所述暗区域在距样品池一定距离处基本上不被照射；以及

检测器，所述检测器距所述样品池一定距离处，配置为检测被所述样品池中的样品从所述有效束散射的光，所述检测器定位成检测沿与所述照射轴成0°至10°的角度的经限定的散射轴的前向或后向散射的光。

2.根据权利要求1所述的颗粒表征仪器，其中，所述样品承载件是样品池，并且所述修改束与自身干涉以沿所述照射轴在所述样品池中生成有效束。

3.根据权利要求1所述的仪器，其中，所述检测器是第一检测器，所述第一检测器定位成检测前向散射光，并且所述仪器还包括第二检测器，所述第二检测器定位成检测后向散射光。

4.根据权利要求1所述的仪器，其中，所述检测器包括有效检测器区域，并且其中所述有效检测器区域完全位于所述暗区域内。

5.根据权利要求1所述的仪器，其中，所述有效束近似于贝塞尔束。

6.根据权利要求1所述的仪器，其中，所述光学元件是轴锥透镜。

7.根据权利要求1所述的仪器，其中，所述光学元件是遮蔽透镜，所述遮蔽透镜在中心处包括光阻挡遮蔽物。

8.根据权利要求7所述的仪器，其中，所述检测器或第二检测器被定位成检测后向散射光并且形成光阻挡遮蔽物。

9.根据权利要求7所述的仪器，其中，所述遮蔽透镜包括穿过其中心的孔；且所述检测器或第二检测器被定位成检测后向散射光并且位于所述孔内。

10.根据权利要求1所述的仪器，其中，所述光学元件包括：

分束器，所述分束器配置为将来自所述光源的光分成第一部分和第二部分；以及

至少一个透镜，所述至少一个透镜定位成接收所述第一部分和所述第二部分，并且其中所述至少一个透镜配置为将所述第一部分和所述第二部分引导到所述样品池上。

11.根据权利要求10所述的仪器，其中，透镜定位成接收来自所述光源的所述光的所述第一部分和所述第二部分，并且所述透镜配置为将所述光的所述第一部分和所述第二部分都引导到所述样品池上，其中所述透镜可选地定位成使得所述第一部分和所述第二部分相对于所述透镜的中心入射在所述透镜上的相对位置处。

12.根据权利要求1所述的仪器，其中，所述样品承载件包括用于保持液体样品液滴的液滴表面，或者其中所述样品承载件包括比色皿。

13.根据权利要求1所述的仪器，还包括光偏转元件，所述光偏转元件配置为将沿所述散射轴散射的光偏转到所述检测器。

14.根据权利要求13所述的仪器，其中，所述光学元件、所述样品承载件和所述光偏转元件支撑在主体上，所述主体可选地配置成接纳在包括所述光源和所述检测器的光学仪器中。

15.根据权利要求1所述的仪器，还包括附加的检测器，所述附加的检测器配置为检测被所述样品位置处的样品从所述有效束散射的光，所述附加的检测器定位成检测沿与所述照射轴成85°至95°的角度的经限定的散射轴的散射光。