[发明专利]收集用于预测过敏发病风险的数据的方法在审
| 申请号： | 201780028699.4 | 申请日： | 2017-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN109952510A | 公开（公告）日： | 2019-06-28 |
| 发明（设计）人： | 木户博;苛原诚;铃木宏一 | 申请（专利权）人： | 应用酵素医学研究所株式会社 |
| 主分类号： | G01N33/53 | 分类号： | G01N33/53;G01N33/50;G01N37/00 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 杨宏军;李国卿 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供预测婴幼儿对过敏原发生过敏的情况的风险的手段。使用DCP芯片，测定出生后6个月以内的婴儿的试样中的、针对蛋清的IgG1抗体效价和IgE抗体效价，将IgG1抗体效价作为X轴、将IgE抗体效价作为Y轴进行绘图而制作散点图，针对被分为两个区块的数据分布，算出可适用于各个区块的一次函数，得到两种一次函数，基于婴儿属于哪一区块来预测发生过敏的风险。 | ||
| 搜索关键词： | 效价 区块 过敏 一次函数 预测 婴儿 数据分布 过敏原 散点图 婴幼儿 蛋清 绘图 芯片 制作 | ||
【主权项】：
1.收集数据的方法，其中，分别定量测定从婴儿采集的试样中的针对过敏原的IgG1及IgE的抗体效价，收集用于根据基于预先经统计处理的从IgG1向IgE的免疫球蛋白类别转换的程度而制定的判断基准来预测所述婴儿在婴幼儿期对所述过敏原发生过敏的风险的数据。
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