[发明专利]光分析装置以及光分析方法有效
| 申请号： | 201780025041.8 | 申请日： | 2017-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN109073466B | 公开（公告）日： | 2020-12-08 |
| 发明（设计）人： | 山野井勇太;瀬户口知巳;寺冈良隆 | 申请（专利权）人： | 柯尼卡美能达株式会社 |
| 主分类号： | G01J3/50 | 分类号： | G01J3/50;C09D5/36;C09D201/00;G01N21/27;G01N21/57 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 车玲玲 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在构成从含有光亮材料的涂膜反射的高亮方向的反射光的多个波长分量各自的反射率中，将成为峰值的第一波长分量下的所述反射率和具有预先被确定的波长的第二波长分量下的所述反射率的差分设为第一差分值。测量部对成为测量对象的所述含有光亮材料的涂膜，关于所述高亮方向的反射光，测量所述第一波长分量下的所述反射率和所述第二波长分量下的所述反射率。第一计算部使用由所述测量部测量出的结果，计算所述第一差分值。存储部预先存储表示指标值与所述第一差分值的相关关系的相关信息，其中，所述指标值表示所述含有光亮材料的涂膜所包含的光亮材料具有的预先被确定的物理特征。指标值计算部使用由所述第一计算部计算出的所述第一差分值和所述相关信息，计算成为所述测量对象的所述含有光亮材料的涂膜的所述指标值。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光分析装置，包括：测量部，在构成从含有光亮材料的涂膜反射的高亮方向的反射光的多个波长分量各自的反射率中，将成为峰值的第一波长分量下的所述反射率和具有预先被确定的波长的第二波长分量下的所述反射率的差分设为第一差分值，并对成为测量对象的所述含有光亮材料的涂膜，关于所述高亮方向的反射光，测量所述第一波长分量下的所述反射率和所述第二波长分量下的所述反射率；第一计算部，使用由所述测量部测量出的结果，计算所述第一差分值；存储部，预先存储表示指标值与所述第一差分值的相关关系并且能够从所述第一差分值求得所述指标值的相关信息，其中，所述指标值表示所述含有光亮材料的涂膜所包含的光亮材料具有的预先被确定的物理特征；以及指标值计算部，使用由所述第一计算部计算出的所述第一差分值和被预先存储在所述存储部中的所述相关信息，计算成为所述测量对象的所述含有光亮材料的涂膜的所述指标值。
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