[发明专利]光分析装置以及光分析方法

权利要求书

1.一种光分析装置，包括：

测量部，在构成从含有光亮材料的涂膜反射的高亮方向的反射光的多个波长分量各自的反射率中，将成为峰值的第一波长分量下的所述反射率和具有预先被确定的波长的第二波长分量下的所述反射率的差分设为第一差分值，并对成为测量对象的所述含有光亮材料的涂膜，关于所述高亮方向的反射光，测量所述第一波长分量下的所述反射率和所述第二波长分量下的所述反射率；

第一计算部，使用由所述测量部测量出的结果，计算所述第一差分值；

存储部，预先存储相关信息，其中，所述相关信息表示指标值与所述第一差分值的相关关系并且能够从所述第一差分值求得所述指标值，所述指标值表示所述含有光亮材料的涂膜所包含的光亮材料具有的预先被确定的物理特征；以及

指标值计算部，使用由所述第一计算部计算出的所述第一差分值和被预先存储在所述存储部中的所述相关信息，计算成为所述测量对象的所述含有光亮材料的涂膜的所述指标值。

2.如权利要求1所述的光分析装置，

所述高亮方向的受光角度是逆定向反射角-15度。

3.一种光分析装置，包括：

测量部，在构成从含有光亮材料的涂膜反射的高亮方向的反射光的多个波长分量各自的反射率中，将成为峰值的第一波长分量下的所述反射率和具有预先被确定的波长的第二波长分量下的所述反射率的差分设为第一差分值，在构成从所述含有光亮材料的涂膜反射的阴影方向的反射光的所述多个波长分量各自的所述反射率中，将所述第一波长分量下的所述反射率和所述第二波长分量下的所述反射率的差分设为第二差分值，将使用所述第一差分值而确定的第一值和使用所述第二差分值而确定的第二值的差分设为第三差分值，对成为测量对象的所述含有光亮材料的涂膜，关于所述高亮方向的反射光，测量所述第一波长分量下的所述反射率和所述第二波长分量下的所述反射率，并关于所述阴影方向的反射光，测量所述第一波长分量下的所述反射率和所述第二波长分量下的所述反射率；

第一计算部，使用由所述测量部测量出的结果，计算所述第一差分值以及所述第二差分值；

第二计算部，计算使用由所述第一计算部计算出的所述第一差分值而确定的所述第一值和使用所述第二差分值而确定的所述第二值的差分、即所述第三差分值；

存储部，预先存储相关信息，其中，所述相关信息表示指标值与所述第三差分值的相关关系并且能够从所述第三差分值求得所述指标值，所述指标值表示所述含有光亮材料的涂膜所包含的光亮材料具有的预先被确定的物理特征；以及

指标值计算部，使用由所述第二计算部计算出的所述第三差分值和被预先存储在所述存储部中的所述相关信息，计算成为所述测量对象的所述含有光亮材料的涂膜的所述指标值。

4.如权利要求3所述的光分析装置，

所述第一值是所述高亮方向的受光角度为第一角度时的所述第一差分值和所述高亮方向的受光角度为第二角度时的所述第一差分值的平均值，所述第二值是所述阴影方向的受光角度为第三角度时的所述第二差分值。

5.如权利要求4所述的光分析装置，

所述第一角度是逆定向反射角-15度，所述第二角度是逆定向反射角15度，所述第三角度是逆定向反射角75度。

6.如权利要求1至权利要求5的任一项所述的光分析装置，

表示所述物理特征的所述指标值是所述光亮材料的粗糙度。