[发明专利]双侧往返时间校准在审
| 申请号： | 201780018483.X | 申请日： | 2017-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN108925141A | 公开（公告）日： | 2018-11-30 |
| 发明（设计）人： | 卡洛斯·奥拉西奥·阿尔达那 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S13/76 | 分类号： | G01S13/76;G01S13/87;G01S7/40;H04W64/00 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 杨林勳 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了用于确定往返时间RTT校准值的技术。根据本发明的方法的实例包含：接收起始站与响应站之间的精细定时测量FTM交换；基于所述FTM交换计算多个微分往返时间RTT测量值；基于所述多个微分RTT测量值计算响应站校准值；以及将所述响应站校准值发射到所述响应站。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 响应 往返 定时测量 时间校准 交换 精细 发射 | ||
【主权项】：
1.一种通过移动装置确定往返时间校准值的方法，其包括：接收起始站与响应站之间的精细定时测量FTM交换；基于所述FTM交换计算多个微分往返时间RTT测量值；基于所述多个微分RTT测量值计算响应站校准值；以及将所述响应站校准值发射到所述响应站。
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