[发明专利]通过转位逆转的冗余聚合物分析在审
| 申请号： | 201780013051.X | 申请日： | 2017-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN108738340A | 公开（公告）日： | 2018-11-02 |
| 发明（设计）人： | 斯图亚特·戴维森 | 申请（专利权）人： | 昆塔波尔公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N27/447;G01N27/453;G01N33/58;G01N33/487;C12Q1/68;B82Y5/00;B82Y99/00;B82Y30/00 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 高瑜;郑霞 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及对聚合物进行冗余测量的方法，所述方法通过逆转聚合物穿过各自具有检测区域的纳米孔的转位来进行，从而允许收集在不同时间从相同聚合物结构产生的信号。此类重复测量被组合以便降低在聚合物结构的最终确定中的噪声。在一些实施方案中，其不同核苷酸附接有可区分的荧光标记物的多核苷酸重复地转位通过纳米孔阵列的纳米孔，以对来自相同区段的光学信号的重复测量进行编译，这些测量可被组合以确定核苷酸序列。 | ||
| 搜索关键词： | 聚合物结构 重复测量 聚合物 纳米孔 转位 逆转 核苷酸序列 聚合物分析 纳米孔阵列 荧光标记物 多核苷酸 光学信号 检测区域 冗余测量 核苷酸 冗余 地转 附接 噪声 编译 测量 穿过 重复 | ||
【主权项】：
1.一种通过纳米孔阵列分析聚合物特征的方法，包括：(a)提供纳米孔阵列，其中每个纳米孔能够提供第一腔室和第二腔室之间的流体连通，并能够提供与转位穿过其的聚合物的至少一种性质相关的信号，并且其中所述纳米孔阵列中的一定百分率的纳米孔包含聚合物；(b)使聚合物穿过所述纳米孔阵列的纳米孔从所述第一腔室转位到所述第二腔室；(c)检测来自正在转位的聚合物的正向信号；(d)逆转聚合物的转位；(e)检测来自其穿过纳米孔的转位被逆转的聚合物的反向信号；(f)根据所述正向信号和反向信号确定每个这样的聚合物的至少一种性质。
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