[发明专利]通过转位逆转的冗余聚合物分析

权利要求书

1.一种通过纳米孔阵列分析聚合物特征的方法，包括：

(a)提供纳米孔阵列，其中每个纳米孔能够提供第一腔室和第二腔室之间的流体连通，并能够提供与转位穿过其的聚合物的至少一种性质相关的信号，并且其中所述纳米孔阵列中的一定百分率的纳米孔包含聚合物；

(b)使聚合物穿过所述纳米孔阵列的纳米孔从所述第一腔室转位到所述第二腔室；

(c)检测来自正在转位的聚合物的正向信号；

(d)逆转聚合物的转位；

(e)检测来自其穿过纳米孔的转位被逆转的聚合物的反向信号；

(f)根据所述正向信号和反向信号确定每个这样的聚合物的至少一种性质。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述步骤(b)至(e)被重复。

3.如权利要求2所述的方法，其中所述步骤(b)至(e)被重复，直到具有聚合物的纳米孔的所述百分率下降到预定水平以下或者达到预定数量的逆转，以先发生者为准。

4.如权利要求3所述的方法，其中具有聚合物的纳米孔的所述百分率被确定为通过所述纳米孔阵列的总电流的函数和/或每当所述正向信号和反向信号是光学信号时从所述纳米孔阵列中的所有纳米孔收集的总光学信号的函数。

5.如权利要求2所述的方法，其中所述步骤(b)和(c)的持续时间基本上等于所述步骤(d)和(e)的持续时间。

6.如权利要求1所述的方法，其中所述聚合物具有自由端部，使得每个聚合物能够通过所述纳米孔阵列的纳米孔从所述第一腔室移动到所述第二腔室。

7.如权利要求2所述的方法，其中所述聚合物是多核苷酸，且所述至少一种性质是核苷酸序列。

8.如权利要求7所述的方法，其中所述多核苷酸的不同种类的核苷酸附接有不同的荧光标记物，所述不同的荧光标记物产生可区分的光学信号，使得不同种类的核苷酸可以通过来自其所附接的荧光标记物的光学信号被鉴定。

9.如权利要求7所述的方法，其中转位穿过所述纳米孔的所述多核苷酸在所述第一腔室和所述第二腔室中形成无规卷曲。

10.如权利要求9所述的方法，其中每个所述多核苷酸具有至少1000个核苷酸的长度。

11.如权利要求2所述的方法，其中所述聚合物是多肽，且所述至少一种性质是肽序列。

12.如权利要求11所述的方法，其中所述多肽的至少两个不同种类的氨基酸残基附接有不同的荧光标记物，所述不同的荧光标记物产生可区分的光学信号，使得不同种类的被标记的氨基酸残基可以通过来自其所附接的荧光标记物的光学信号被鉴定。

13.一种确定聚合物特征的方法，所述方法包括：

(a)提供包括固相膜的纳米孔阵列，所述固相膜具有第一侧面、第二侧面和从其穿过的多个孔，每个孔包括至少一个纳米孔，其中所述固相膜使第一腔室和第二腔室隔开，使得每个纳米孔提供所述第一腔室和所述第二腔室之间的流体连通，并且其中每个纳米孔在所述固相膜的所述第二侧面上具有检测区域；

(b)使聚合物穿过纳米孔从所述第一腔室转位到所述第二腔室转位，每个聚合物具有一个或更多个与其附接的光学标记物，所述光学标记物能够产生指示所述聚合物的特征的光学信号；

(c)照射所述固相膜的所述第二侧面，使得光学标记物在所述检测区域中产生光学信号；

(d)在所述检测区域中检测来自所述光学标记物的指示所述聚合物的特征的光学信号，以产生聚合物数据；

(e)逆转所述聚合物的转位；

(f)重复步骤(c)和(d)以产生冗余聚合物数据；以及

(g)根据所述聚合物数据和所述冗余聚合物数据确定所述聚合物的特征。