[发明专利]在发光成像中使用的基于光子超晶格的设备和组成物及其使用方法有效

专利信息
申请号: 201780005281.1 申请日: 2017-03-23
公开(公告)号: CN108474744B 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: 迪特里希·德林格;程·弗兰克·钟;尤拉伊·托波兰希克 申请(专利权)人: 伊鲁米那股份有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/77;B01L3/00;G01N21/03;G01N21/25
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 陆建萍;杨明钊
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 依据一个方面,提供了一种用于在发光成像中使用的设备(300)。设备(300)可以包括光子超晶格(310),其包括第一材料,第一材料具有第一折射率。第一材料可以包括第一和第二主表面(311,312)以及通过第一和第二主表面(311,312)中的至少一个限定的第一和第二多个特征(313,314),第一多个特征(313)在至少一个特性上不同于第二多个特征(314)。光子超晶格(310)可以支持大约以第一角度从光子超晶格(310)出来的第一波长(λ1)和第二波长(λ2)的传播,第一和第二波长(λ12)由不选择性地以第一角度从光子超晶格(310)传播出的第一非传播波长从彼此分离。该设备还可以包括具有不同于第一折射率的第二折射率的第二材料。第二材料可以布置在第一和第二多个特征(313,314)之内、之间或之上,并且可以包括第一和第二发光体(321,322)。该设备(300)还可以包括布置在第一材料的第一和第二主表面(311,312)之一上的第一光学部件(330)。第一光学部件(330)可以接收由第一发光体(321)大约以第一角度发射的在第一波长(λ1)处的冷光,并且可以接收由第二发光体(322)大约以第一角度发射的在第二波长(λ2)处的冷光。
搜索关键词: 波长 超晶格 光子 第一材料 发光体 折射率 主表面 冷光 第二材料 发光成像 光学部件 彼此分离 发射 非传播 组成物 传播
【主权项】:
1.一种用于在发光成像中使用的设备,所述设备包括:光子超晶格,其包括第一材料,所述第一材料具有第一折射率,所述第一材料包括第一主表面和第二主表面以及仍然所述第一主表面和所述第二主表面中的至少一个限定的第一多个特征和第二多个特征,所述第一多个特征中的特征在至少一个特性上不同于所述第二多个特征中的特征;以及所述光子超晶格支持大约以第一角度从所述光子超晶格出来的第一波长和第二波长的传播,所述第一波长和所述第二波长由不选择性地以所述第一角度从所述光子超晶格传播出的第一非传播波长从彼此分离;第二材料,其具有不同于所述第一折射率的第二折射率,所述第二材料布置在所述第一多个特征和所述第二多个特征之内、之间或之上,并且包括第一发光体和第二发光体;以及第一光学部件,其布置在所述第一材料的所述第一主表面和所述第二主表面之一上,所述第一光学部件接收由所述第一发光体大约以所述第一角度发射的在所述第一波长处的冷光,以及所述第一光学部件接收由所述第二发光体大约以所述第一角度发射的在所述第二波长处的冷光。
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