[实用新型]一种溅射腔室及物理气相沉积设备有效

专利信息
申请号: 201721905399.3 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN208308944U 公开(公告)日: 2019-01-01
发明(设计)人: 沈开春;陈勇;刘艺 申请(专利权)人: 中航(重庆)微电子有限公司
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C23C14/35
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 401331 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 实用新型公开了一种溅射腔室及物理气相沉积设备,属于半导体制造技术领域,包括腔室壁,其内部固定有一盖环;基座,用于承载晶圆,基座设置于盖环的下方;圆筒状的托举装置,围绕基座设置,托举装置的内壁上设置一环形的台阶;基座具有相对伸出于托举装置的沉积位置,和位于托举装置内的冷却位置,冷却位置低于沉积位置;基座处于沉积位置时,盖环覆盖晶圆的边缘;基座处于冷却位置时,基座的上端面位于托举装置的顶部和台阶之间。上述技术方案的有益效果是:给基座增设一冷却位置,于气相沉积完成后,基座由沉积位置下降至冷却位置使晶圆与盖环脱离,避免晶圆与盖环连接处的沉积物在冷却后造成晶圆与盖环的粘连,进而避免晶圆破片。
搜索关键词: 盖环 晶圆 冷却位置 托举装置 沉积位置 物理气相沉积设备 溅射腔室 沉积物 半导体制造技术 本实用新型 内部固定 气相沉积 腔室壁 上端面 圆筒状 粘连 内壁 破片 冷却 承载 伸出 增设 脱离 覆盖
【主权项】:
1.一种溅射腔室,应用于物理气相沉积设备中,其特征在于,包括:腔室壁,于所述腔室壁内固定有一盖环;基座,用于承载待处理的晶圆,所述基座对应于所述盖环设置于所述盖环的下方;一圆筒状的托举装置,围绕所述基座设置,于所述托举装置的内壁上设置一环形的台阶,所述托举装置的顶部与所述台阶之间具有一高度差;所述基座具有相对伸出于所述托举装置的沉积位置,以及位于所述托举装置内的冷却位置,所述冷却位置低于所述沉积位置;于所述基座处于所述沉积位置时,所述盖环覆盖待处理的晶圆的边缘;于所述基座处于所述冷却位置时,所述基座的上端面位于所述托举装置的顶部和所述台阶之间。
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