[实用新型]一种基于半导体制冷的高低温试验箱有效
| 申请号： | 201721496263.1 | 申请日： | 2017-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN208156522U | 公开（公告）日： | 2018-11-27 |
| 发明（设计）人： | 梁捷;黄柯颖;李刚;蒋雯倩;龙东;龙伟杰;丁志华 | 申请（专利权）人： | 广西电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G05D23/20 | 分类号： | G05D23/20 |
| 代理公司： | 南宁东智知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 45117 | 代理人： | 戴燕桃;余小宁 |
| 地址： | 530023 广西*** | 国省代码： | 广西;45 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及低压载波设备性能测试技术领域，具体涉及一种基于半导体制冷的高低温试验箱，具体包括箱体、温度调节系统，温度调节系统包括信号检测模块、中央处理器、加热装置、制冷装置；信号检测模块采集箱体内部的温度信号给中央处理器处理，中央处理器控制制冷装置、加热装置的工作状态；加热装置用于当箱体内部高度低于预设值时升高箱体内的温度；制冷装置用于当箱体内部温度高于预设值时降低箱体内的温度；本实用新型解决了一般高低温试验箱体积大、精度低等问题，本实用新型采用半导体制冷片与DS18B20温度传感器多点测温相结合，减少了测量误差和增加了测试过程中的稳定性，提高了电子工业产品环境可靠性和质量检验水平。 | ||
| 搜索关键词： | 本实用新型 中央处理器 加热装置 箱体内部 高低温试验箱 温度调节系统 信号检测模块 半导体制冷 制冷装置 预设 半导体制冷片 电子工业产品 控制制冷装置 设备性能测试 高低温试验 环境可靠性 测试过程 低压载波 多点测温 温度信号 质量检验 升高 测量 采集 | ||
【主权项】：
1.一种基于半导体制冷的高低温试验箱，其特征在于：包括箱体、温度调节系统；所述温度调节系统包括信号检测模块、中央处理器、加热装置、制冷装置；所述信号检测模块用于采集箱体内部的温度信号并将采集到的温度信号传输给中央处理器处理；所述中央处理器用于处理信号检测模块采集到的温度信号，并控制制冷装置、加热装置的工作状态；所述加热装置用于当箱体内部高度低于预设值时升高箱体内的温度；所述制冷装置用于当箱体内部温度高于预设值时降低箱体内的温度；所述中央处理器分别与信号检测模块、加热装置、制冷装置连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广西电网有限责任公司电力科学研究院，未经广西电网有限责任公司电力科学研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201721496263.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：智能主控器
- 下一篇：一种防冰壁面静压测量控制结构
