[实用新型]一种超低硫检测的X荧光分析仪有效

专利信息
申请号: 201721430933.X 申请日: 2017-10-30
公开(公告)号: CN207600982U 公开(公告)日: 2018-07-10
发明(设计)人: 郭晓明;苏建平;时玲 申请(专利权)人: 上海精谱科技有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 代理人: 吕伴
地址: 201806 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种超低硫检测的X荧光分析仪,包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、滤光控制装置、样品上照方式测试装置、嵌入式计算机控制系统及单片机控制器;激发光源装置与信号探测装置设置在样品上照方式测试装置的上方,信号处理装置设置在信号探测装置的一端并与嵌入式计算机控制系统的一端连接;激发光源装置与样品上照方式测试装置通过单片机控制器与嵌入式计算机控制系统连接;滤光控制装置设置在激发光源装置与样品上照方式测试装置之间,本实用新型采用上侧为X射线发生器及FAST‑SDD电制冷探测器,而下侧为样品的方式,液体样品定量装入样品杯,样品杯上液面直接受照射激发方式,最高效率测量油品中的硫等轻元素。
搜索关键词: 激发光源装置 测试装置 嵌入式计算机控制系统 信号探测装置 单片机控制器 信号处理装置 本实用新型 控制装置 超低硫 样品杯 滤光 电制冷探测器 效率测量 液体样品 一端连接 轻元素 上液面 检测 油品 装入 照射 激发
【主权项】:
1.一种超低硫检测的X荧光分析仪,包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置以及滤光控制装置,其特征在于,该分析仪还包括样品上照方式测试装置、嵌入式计算机控制系统以及单片机控制器;所述样品上照方式测试装置包括用于放置待测样品的样品托板以及设置在所述样品托板一端用于驱动该样品托板移动的驱动电机;所述激发光源装置设置在所述样品上照方式测试装置一侧的上方,所述信号探测装置设置在所述样品上照方式测试装置另一侧的上方于激发光源装置的最佳反射角的位置上;所述信号处理装置设置在所述信号探测装置的一端并与所述嵌入式计算机控制系统的一端连接;所述激发光源装置与所述样品上照方式测试装置通过所述单片机控制器与所述嵌入式计算机控制系统连接;所述滤光控制装置设置在所述激发光源装置与所述样品上照方式测试装置之间。
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