[实用新型]一种超低硫检测的X荧光分析仪有效
| 申请号： | 201721430933.X | 申请日： | 2017-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN207600982U | 公开（公告）日： | 2018-07-10 |
| 发明（设计）人： | 郭晓明;苏建平;时玲 | 申请（专利权）人： | 上海精谱科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人： | 吕伴 |
| 地址： | 201806 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 激发光源装置 测试装置 嵌入式计算机控制系统 信号探测装置 单片机控制器 信号处理装置 本实用新型 控制装置 超低硫 样品杯 滤光 电制冷探测器 效率测量 液体样品 一端连接 轻元素 上液面 检测 油品 装入 照射 激发 | ||
1.一种超低硫检测的X荧光分析仪，包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置以及滤光控制装置，其特征在于，该分析仪还包括样品上照方式测试装置、嵌入式计算机控制系统以及单片机控制器；
所述样品上照方式测试装置包括用于放置待测样品的样品托板以及设置在所述样品托板一端用于驱动该样品托板移动的驱动电机；
所述激发光源装置设置在所述样品上照方式测试装置一侧的上方，所述信号探测装置设置在所述样品上照方式测试装置另一侧的上方于激发光源装置的最佳反射角的位置上；所述信号处理装置设置在所述信号探测装置的一端并与所述嵌入式计算机控制系统的一端连接；所述激发光源装置与所述样品上照方式测试装置通过所述单片机控制器与所述嵌入式计算机控制系统连接；所述滤光控制装置设置在所述激发光源装置与所述样品上照方式测试装置之间。
2.如权利要求1所述的一种超低硫检测的X荧光分析仪，其特征在于，所述激发光源装置包括X射线发生器以及高压发生器。
3.如权利要求2所述的一种超低硫检测的X荧光分析仪，其特征在于，所述信号探测装置包括FAST-SDD电制冷探测器以及探测器电源，所述FAST-SDD电制冷探测器位于所述X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上，与所述探测器电源的一端连接；在所述FAST-SDD电制冷探测器上设置有USB接口、RS232串口、以太网通信接口。
4.如权利要求3所述的一种超低硫检测的X荧光分析仪，其特征在于，所述信号处理装置包括一端与所述FAST-SDD电制冷探测器连接的放大器、一端与所述放大器连接的模数转换器以及一端与所述模数转换器连接的单片机。
5.如权利要求2所述的一种超低硫检测的X荧光分析仪，其特征在于，所述滤光控制装置包括设置在所述X射线发生器前端的滤光片以及设置在所述滤光片一端的驱动电机。
6.如权利要求1所述的一种超低硫检测的X荧光分析仪，其特征在于，所述嵌入式计算机控制系统包括嵌入式计算机以及设置在所述计算机上的显示器，在所述嵌入式计算机上设置有USB接口、RS232串口、以太网通信接口多种功能，将所述单片机接口获取的多道数据传入嵌入式计算机。
7.如权利要求6所述的一种超低硫检测的X荧光分析仪，其特征在于，在所述嵌入式计算机上还连接有微型打印机以及采用无线连接的方式连接有鼠标、键盘。
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