[实用新型]一种用于X射线衍射仪测试的样品托架

摘要

本实用新型公开一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，包括平板结构的C部件，所述平板结构的C部件的材质为单晶硅，所述平板结构的C部件放置升降台上，所述升降台放置在仪器样品台下部仪器箱体平面上，所述平板结构的C部件镶嵌在窗式结构的B部件的窗口内，所述窗式结构的B部件材质为高纯金属铜板材，所述窗式结构的B部件的上方放置平板结构的A部件。窗式结构的B部件采用铜材料，有效吸收杂散光。平板结构的C部件使用X射线衍射仪在测量区域无衍射峰的单晶硅制作，本实用新型的样品托架可以稳定地与仪器原有的样品台连接合用，并且可通过该样品托架实现无论样品大小，薄厚、形状都能与样品台严格平行，保证测量的准确性，并且不改变原仪器结构。

主权项

1.一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，其特征在于：包括平板结构的C部件（1），所述平板结构的C部件（1）的材质为单晶硅，所述平板结构的C部件（1）放置升降台（4）上，所述升降台（4）放置在仪器样品台下部仪器箱体平面（5）上，所述平板结构的C部件（1）镶嵌在窗式结构的B部件（2）的窗口内，所述窗式结构的B部件（2）的材质为高纯金属铜板材，所述窗式结构的B部件（2）的上方放置平板结构的A部件（3）。