[实用新型]一种用于X射线衍射仪测试的样品托架

说明书

本实用新型公开一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，包括平板结构的C部件，所述平板结构的C部件的材质为单晶硅，所述平板结构的C部件放置升降台上，所述升降台放置在仪器样品台下部仪器箱体平面上，所述平板结构的C部件镶嵌在窗式结构的B部件的窗口内，所述窗式结构的B部件材质为高纯金属铜板材，所述窗式结构的B部件的上方放置平板结构的A部件。窗式结构的B部件采用铜材料，有效吸收杂散光。平板结构的C部件使用X射线衍射仪在测量区域无衍射峰的单晶硅制作，本实用新型的样品托架可以稳定地与仪器原有的样品台连接合用，并且可通过该样品托架实现无论样品大小，薄厚、形状都能与样品台严格平行，保证测量的准确性，并且不改变原仪器结构。

技术领域

本实用新型属于一种实验测试辅助用品，更具体地说是一种用于X射线衍射仪测量的样品托架。

背景技术

X射线的发现是人类1895年里程碑式的发现，现代物理学研究的开始，X射线衍射仪应用于材料的晶体结构分析距今也有100年的历史。X射线衍射仪是利用X射线的波长和晶体内部原子之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到晶体上时，受到晶体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。通过分析衍射峰位和峰强，便可获得晶体结构参数。是分析判断材料晶体结构的一种可靠技术。物相鉴定是晶体材料研究的常规测试手段，X射线衍射仪对晶体结构分析，具有速度快，准确性高的特点，是一种目前在高校实验室及科研院所广为普及的常规测试设备。

X射线衍射仪的测试技术水平，除依赖于仪器的射线发生器功率、角分辨率、稳定性外，样品表部件是否平整，是否与样品台的水平一致也是造成衍射峰位分析误差的重要因素。

X射线衍射仪仪器为进口设备，原样品台对样品要求高，对一些样品量少、形状太小或者太大的样品的分析有以下几点缺陷：1.样品太大放不到样品台上，不能检测，2.样品太小，样品周围的背底杂散信号太强，对衍射信号造成干扰；3.样品表部件不能与样品台严格平行造成衍射峰偏移。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是针对现有技术中的缺点而提供一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，本实用新型样品托架简单、方便实用，测量结构准确性高，并且不改变原仪器结构。

为解决本实用新型的技术问题采用如下技术方案：

一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，包括平板结构的C部件，所述平板结构的C部件的材质为单晶硅，所述平板结构的C部件放置升降台上，升降台放置在仪器样品台下部仪器箱体平面上，所述平板结构的C部件镶嵌在窗式结构的B部件的窗口内，所述窗式结构的B部件材质为高纯金属铜板材，所述窗式结构的B部件的上方放置平板结构的A部件。

所述平板结构的A部件材质为普通玻璃。

所述窗式结构的B部件的尺寸为为长45 mm、宽35 mm、高2mm，其中的窗口尺寸为长25 mm、宽15 mm，所述平板结构的C部件的尺寸为长25 mm、宽15 mm。

所述平板结构的A部件的尺寸为长45 mm、宽35 mm、高2mm。

所述平板结构的C部件的表部件平整度为0.05mm。

所述升降台为手动精密升降台。