[实用新型]一种芯片功能测试系统有效
| 申请号： | 201721236470.3 | 申请日： | 2017-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN207541213U | 公开（公告）日： | 2018-06-26 |
| 发明（设计）人： | 雒兴明;张薇;刘刚 | 申请（专利权）人： | 北京锐达芯集成电路设计有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 付生辉 |
| 地址： | 101111 北京市大兴区经济技术*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种芯片功能测试系统，包括：芯片接入部，实现待测芯片与所述芯片功能测试系统之间的电通信；单片机模块，根据待测芯片的输出脉冲，控制指示器的点亮和熄灭；以及指示器，根据单片机模块输出的控制信号，指示待测芯片的输出脉冲是否正常。 | ||
| 搜索关键词： | 测试系统 待测芯片 芯片功能 单片机模块 输出脉冲 控制指示器 控制信号 电通信 指示器 点亮 熄灭 芯片 输出 | ||
【主权项】：
1.一种芯片功能测试系统，其特征在于，包括：芯片接入部，实现待测芯片与所述芯片功能测试系统之间的电通信；单片机模块，根据所述待测芯片的输出脉冲，控制指示器的点亮和熄灭；以及指示器，根据所述单片机模块输出的控制信号，指示所述待测芯片的输出脉冲是否正常。
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