[实用新型]一种芯片功能测试系统

说明书

一种芯片功能测试系统，包括：芯片接入部，实现待测芯片与所述芯片功能测试系统之间的电通信；单片机模块，根据待测芯片的输出脉冲，控制指示器的点亮和熄灭；以及指示器，根据单片机模块输出的控制信号，指示待测芯片的输出脉冲是否正常。

技术领域

本实用新型涉及微电子测试系统。更具体地，涉及一种芯片功能测试系统。

背景技术

随着CMOS工艺的快速发展，越来越多的CMOS电路被应用于航天航空领域。在宇宙空间中存在许多单个高能粒子，它入射到半导体材料或者集成电路中会产生高密度的电子空穴对，这些电子空穴对能够被器件敏感的反偏PN结所收集，从而使电子器件出现逻辑错误、脉冲干扰等现象。

微电子技术的发展和半导体器件特征尺寸的降低，使得航天设备的单粒子效应越来越显著，为了能够快速准确的估量单粒子效应对电路产生的影响，人们提出了许多模拟电粒子效应的方法，通过单粒子试验对电子产品的抗单粒子效应的能力进行评估，从而得到关于集成电路芯片的一些参数结果来摸底其抗单粒子效应的能力。

在单粒子试验中，需要实时地对芯片的功能进行检测。在对芯片进行单粒子试验时，需要实时测试其输出管脚的脉冲并观察脉冲是否正常。

因此，需要提供一种体积轻便的芯片功能测试系统。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片功能测试系统。

为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：

一种芯片功能测试系统。该芯片功能测试系统包括：芯片接入部，实现待测芯片与所述芯片功能测试系统之间的电通信；单片机模块，根据待测芯片的输出脉冲，控制指示器的点亮和熄灭；以及指示器，根据单片机模块输出的控制信号，指示待测芯片的输出脉冲是否正常。

优选地，单片机模块与芯片接入部和指示器电连接。

优选地，单片机模块包括单片机、单片机夹具、去耦电容、复位电容和保护电容。

优选地，芯片功能测试系统还包括：正负极接口，与外接电源相连接以为所述芯片

功能测试系统提供电力；晶振模块，为所述单片机模块提供脉冲时钟；开始键，用户通过所述开始键控制所述芯片功能测试系统的启动；以及复位键，用户通过复位键控制所述芯片功能测试系统的复位。

优选地，正负极接口包括正极端和负极端。

优选地，晶振模块包括晶振和稳定电容。

优选地，开始键和复位键连接有上拉电阻。

优选地，指示器为LED，并且连接有限流电阻。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型所述技术方案实现了一种体积轻便、能够对芯片功能进行实时测试的芯片功能测试系统。

附图说明

下面结合附图对本实用新型的具体实施例作进一步详细的说明：

图1为示出根据本公开一个实施例的芯片功能测试系统的框图；

图2为示出根据本公开一个实施例的PCB电路图；以及

图3为示出根据本公开一个实施例中单片机与各部分之间连接关系的示意图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本实用新型，下面结合优选实施例和附图对本实用新型做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本实用新型的保护范围。