[实用新型]激光器老化测试设备有效
| 申请号： | 201721182503.0 | 申请日： | 2017-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN207263849U | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 黄海翔;廖东升;刘猛;文少剑 | 申请（专利权）人： | 深圳市杰普特光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市龙华新区观澜*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种激光器老化测试设备，用于对半导体激光器进行老化测试，该激光器老化测试设备包括测试架、设置在测试架上的降温板、功率检测器、电源机构、与电源机构电气连接的主控制器、及与降温板连接的供液组件；电源机构与半导体激光器电气连接，向若干半导体激光器提供电源；功率检测器与半导体激光器对应，以检测半导体激光器在老化测试过程中的发光功率；主控制器与功率检测器电气连接；电源机构设有电能输出口、温度检测口、及数据输出口；通过设置功率检测器及主控制器，可自动分析半导体激光器在老化测试过程中的发光性能，并实施对半导体激光器在老化测试过程中的保护控制，能同时对多个半导体激光器进行老化，提升了测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 激光器 老化 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种激光器老化测试设备，其特征在于，包括测试架、设置在所述测试架上的降温板、功率检测器、电源机构、与所述电源机构电气连接的主控制器、及与所述降温板连接的供液组件；所述测试架包括相对设置第一侧框、第二侧框、及安装在所述第一侧框与所述第二侧框之间的辅助基板、负载基板；所述主控制器与所述功率检测器电气连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市杰普特光电股份有限公司，未经深圳市杰普特光电股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201721182503.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
