[实用新型]激光器老化测试设备有效
申请号: | 201721182503.0 | 申请日: | 2017-09-14 |
公开(公告)号: | CN207263849U | 公开(公告)日: | 2018-04-20 |
发明(设计)人: | 黄海翔;廖东升;刘猛;文少剑 | 申请(专利权)人: | 深圳市杰普特光电股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/26 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人: | 吴平 |
地址: | 518100 广东省深圳市龙华新区观澜*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光器 老化 测试 设备 | ||
技术领域
本实用新型涉及检测设备,特别是涉及一种激光器老化测试设备。
背景技术
半导体激光器在生产完成后,为保证出厂产品的合格率,需对生产完成的产品进行老化测试,所谓老化测试,即将半导体激光器通电,使其在一定条件下持续工作一段时间,通过老化测试的半导体激光器才允许提供给客户,从而确保了出售的半导体激光器能持续稳定工作。
现有老化测试方式中,一般利用人工操作各种检测设备以启动老化测试、并记录老化测试过程中的各种电气参数。因此,现有老化测试的检测效率较低,无法满足半导体激光器批量生产的要求。
实用新型内容
基于此,本实用新型提供一种检测效率较高的激光器老化测试设备。
为了实现本实用新型的目的,本实用新型采用以下技术方案:
一种激光器老化测试设备,包括测试架、设置在所述测试架上的降温板、功率检测器、电源机构、与所述电源机构电气连接的主控制器、及与所述降温板连接的供液组件;所述测试架包括相对设置第一侧框、第二侧框、及安装在所述第一侧框与所述第二侧框之间的辅助基板、负载基板;所述主控制器与所述功率检测器电气连接。
本实用新型的激光器老化测试设备通过设置功率检测器及主控制器,可自动分析半导体激光器在老化测试过程中的发光性能,并实施对半导体激光器在老化测试过程中的保护控制,能同时对多个半导体激光器进行老化,提升了测试的效率。
在其中一个实施例中,所述电源机构设有电能输出口、温度检测口、及数据输出口;所述降温板上还设有测温槽;所述降温板上的测温槽中安装有温控元件;所述温控元件与所述电源机构的温度检测口连接。
在其中一个实施例中,所述电源机构的数据输出口与所述主控制器连接。
在其中一个实施例中,所述辅助基板与所述负载基板在垂直方向相互重合;所述负载基板上安装有若干所述降温板;所述功率检测器包括主体部、及与所述主体部连接的外延部;所述功率检测器的主体部安装在所述负载基板上,且处于所述降温板的一侧。
在其中一个实施例中,所述降温板与若干所述功率检测器对应;所述降温板上的温控元件与所述功率检测器对应。
在其中一个实施例中,所述供液组件包括送液器、及若干导液管;所述降温板上设有若干液流通道;所述送液器的输出口经所述导液管连接至所述降温板上的液流通道。
在其中一个实施例中,在所述负载基板上,相邻的所述降温板的液流通道经所述导液管连通。
在其中一个实施例中,所述供液组件包括送液器、及若干导液管;所述功率检测器的主体部内设有通流腔;所述送液器经所述导液管连接至所述功率检测器的主体部内的通流腔。
在其中一个实施例中,在所述负载基板上,相邻的所述功率检测器的主体部内的通流腔经所述导液管相互连通。
在其中一个实施例中,所述电源机构安装在辅助基板上。
附图说明
图1为本实用新型的一较佳实施例的激光器老化测试设备的立体示意图;
图2为图1中的基板、降温板、及功率检测器之间的结构示意图;
图3为图2中的圆圈A处的放大图;
图4为图2中的圆圈B处的放大图;
图5A为图1中的降温板的立体示意图;
图5B为图5A中的降温板的C处放大图;
图6为电源机构、主控制器、及功率检测器之间的连接关系图。
具体实施方式
为了便于理解本实用新型,下面将对本实用新型进行更全面的描述。但是,本实用新型可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本实用新型。
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